每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比也是确定的，当Kα线强度为5kcps时，Kβ线的强度约为（）。A、2kcpsB、1kcpsC、5kcpsD、4kcps
在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（）A、全谱段波长B、0.001～10nmC、0.01～120nmD、0.1～800nm
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
色散型X射线荧光光谱仪分为（）。A、能量色散型B、多色散型C、波长色散型D、热量色散型
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。A、不连续B、连续C、散射D、相对
X射线荧光光谱分析中，各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长，随原子序数的大小而变化，与管电压和管电流的大小也有关。
能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。
X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有（）、（）、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。
波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射
X射线荧光的波长轻元素的波长较短，重元素的波长较长。
波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征
用一般光学分光仪不能获得X射线谱的原因是：（）A、X射线是不可见光B、X射线强度太大C、X，射线波长秀短，在介质中几乎不发生色散D、X射线有荧光效应
能量色散X射线荧光法元素激发条件可用（）控制。A、调节X射线管电压B、调节X射线管电流强度C、增加测定时间D、增加X射线强度
问答题特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同？某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长？
单选题连续X射线光谱又称白色射线，它由某一短波限λo开始直到波长等于无穷大λ∞的一系列波长组成。下列对连续X射线的规律和特点描述正确的是（）A当增加X射线管压时，各种波长射线的相对强度一致增高，最大强度波长λm和短波限λo变小B当管压保持恒定，增加管流时，各种波长的X射线相对强度一致增高，但λm和λo数值大小不变C当改变阳极靶元素时，各种波长的相对强度随靶元素的原子序数增加D以上都对
填空题X射线连续谱图形变化规律中，当管压增高。连续谱各波长的相对强度相应（），且（）都向短波方向移动。随管电流.管电压的改变，特征X射线谱的谱线只改变（）而特征X射线的波长取决于阳极靶的元素的（），每个特征谱线都对应一个特定的（）。