波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感,温度变化会引起晶体面间距值的变化,导致谱线的位移。


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波长色散X射线荧光光谱仪单色器由一对光束和()元件组成。A、过滤器B、准直器C、反射D、色散

在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

波长色散X射线荧光光谱仪正常工作是有三个部件需要冷却,其中最需要冷却的是()。

波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

色散型X射线荧光光谱仪分为()。A、能量色散型B、多色散型C、波长色散型D、热量色散型

波长色散X射线荧光光谱仪的检定周期为()。A、2年B、1年C、6个月

()是X射线荧光光谱仪的分光器件。A、石英棱镜B、光栅C、分光晶体D、卤素盐棱镜

激光器的P-I曲线随温度的变化而变化,从而导致()的变化。A、波长B、输出光功率C、谱宽D、频率啁啾

波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将()的X射线变成()的射线束。A、发散B、会聚C、平行D、混合

能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同()的特点,将其分开,依靠()探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数

波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

温度变化会引起()不规则变化。A、色散系统B、光学元件C、精密零部件D、光源的材质

波长色散X射线荧光光谱仪上,在晶体和探测器之间的光束是()光束。A、混合B、连续C、单色D、散射

波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

波长色散X射线荧光光谱仪中的晶体一般而言,灵敏度与分辨率成正比关系,高的色散率晶体往往反射率低。

X射线荧光光谱仪采用()作为分光元件。A、棱镜B、光栅C、晶体D、入射狭缝

()是X射线荧光光谱仪的分光器件。A、石英棱镜B、光栅C、分光晶体D、卤化物棱镜

波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线()转换成()的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流

波长色散X射线荧光K系谱线相对强度在不同元素间变化范围较大,测得的准确度也较高,而L和M谱线系的相对强度变化较小。

X射线荧光光谱仪均使用分光晶体。

波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有()、()、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

波长色散X射线荧光光谱仪可分为扫()、()和()三种类型。

顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、()、准直器、测角仪、()以及样品室、计数电路和计算机组成。

X射线荧光光谱仪分光方法有()和(),分别用平晶和弯晶分光。

波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与()之间,是一种能()吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

单选题激光器的P-I曲线随温度的变化而变化,从而导致()的变化。A波长B输出光功率C谱宽D频率啁啾