像质剂是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。

像质剂是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。


相关考题:

按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分:射线检测》规定,单壁透照中,如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时,应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告上注明。()

按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分:射线检测》的规定,对于一次曝光完成多张胶片照相的情况,每张底片上都应有像质计影像。()

()是评价射线照相质量最重要指标 A、像质等级B、灵敏度C、射线能量D、曝光规范

射线底片的焊缝影象上应发现的像质计的金属丝的长度不得小于()mm

阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是

下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较

一铸件厚度为1.25英寸,射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔,则该底片的当量灵敏度为()。

像质计是判别射线照像质量和测定照像灵敏度的器件。

以下有关放置像质计的说法正确的是()A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对

像质计是用来鉴定()A、影像灵敏度B、影像黑度C、射线强度D、电流大小

射线探伤时,在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号,如果经过处理的底片上出现B的亮图像,则认为()A、这一张底片对比度高,像质好B、这一张底片清晰度高,灵敏度高C、这一张底片受正向散射线影响严重,像质不符合要求D、这一张底片受背向散射影响严重,像质不符合要求

射线照相中,使用象质计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、评价底片灵敏度C、测定底片清晰度D、以上都是

底片质量必须满足()。A、有效评定区的黑度符合相应射线种类和象质级别的要求B、象质指数满足标准规定的要求C、影像识别系统位置正确、齐全,且不掩盖焊缝影像,在有效评定区内,不得有影响准确评定的伪相D、以上都是

下面关于像质计的叙述中,正确的是()A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对

像质计用来指示底片对比度

像质计是用来鉴定照相技术和胶片处理质量的器件。

射线透照厚度1.25in的铸件,射线底片上显示出ASTM20#像质计的2T孔,则该底片的当量灵敏度为()。A、 0.8%B、 1.6%C、 2.4%D、 3.2%

射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。A、测量缺陷的大小B、测量缺陷的位置C、测量缺陷的几何不清楚度D、确定底片的彩像质量

单选题射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。A测量缺陷的大小B测量缺陷的位置C测量缺陷的几何不清楚度D确定底片的彩像质量

判断题像质剂是用来检查和定量评价射线底片影像质量的工具。A对B错

填空题射线底片的焊缝影象上应发现的像质计的金属丝的长度不得小于()mm

判断题像质计用来指示底片对比度A对B错

单选题射线探伤时,在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号,如果经过处理的底片上出现B的亮图像,则认为()A这一张底片对比度高,像质好B这一张底片清晰度高,灵敏度高C这一张底片受正向散射线影响严重,像质不符合要求D这一张底片受背向散射影响严重,像质不符合要求

单选题像质计是用来鉴定()A影像灵敏度B影像黑度C射线强度D电流大小

单选题下面关于像质计的叙述中,正确的是()A各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D以上都不对

单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A阶梯孔型像质计更灵敏些B丝型像质计更灵敏些C两者灵敏性相同D以上都不是

单选题下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B像质计形状与尺寸都是已知的C像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较