像质计用来指示底片对比度
像质计用来指示底片对比度
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按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分：射线检测》规定，单壁透照中，如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时，应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记，“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上，且应在检测报告上注明。()
下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
以下有关放置像质计的说法正确的是（）A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中，在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端，像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对
射线探伤时，在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号，如果经过处理的底片上出现B的亮图像，则认为（）A、这一张底片对比度高，像质好B、这一张底片清晰度高，灵敏度高C、这一张底片受正向散射线影响严重，像质不符合要求D、这一张底片受背向散射影响严重，像质不符合要求
单选题射线探伤时，在胶片暗盒和底部铅板之间放一个一定规格的B字铅符号，如果经过处理的底片上出现B的亮图像，则认为（）A这一张底片对比度高，像质好B这一张底片清晰度高，灵敏度高C这一张底片受正向散射线影响严重，像质不符合要求D这一张底片受背向散射影响严重，像质不符合要求
单选题下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B像质计形状与尺寸都是已知的C像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较