用金属探针与半导体接触以测量半导体的电阻率通过采取()避免少数载流子注入的影响。A.引入杂质B.改变接触C.增加表面复合D.减少表面复合
用金属探针与半导体接触以测量半导体的电阻率通过采取()避免少数载流子注入的影响。
A.引入杂质
B.改变接触
C.增加表面复合
D.减少表面复合
参考答案和解析
增加表面复合
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填空题N型半导体中多数载流子是(),少数载流子是()。