问答题X射线定量分析的理论依据是什么？

问答题
X射线定量分析的理论依据是什么？

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X射线荧光定量分析方法有（）和（）两大类。
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X射线光谱定量分析方法有（）。A、标准加入法B、内标法C、标准曲线法D、增量法
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X射线摄影和X射线透视的基本原理是什么？它们有哪些特点？
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原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。
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原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
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X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
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x射线的主要性质是什么？
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X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
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X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
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X射线荧光定量分析是对（）X射线的强度进行测量。
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X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
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X射线荧光定量分析时，采用比较标准法，其适宜的分析对象的特征是什么？其标准样的配制应注意什么？
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