用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。 A、0.9μmB、0C、1.8μm
若用平晶检测被测件,测量面上的干涉条纹为园形时,其测量面的凹凸情况可以这样进行判定:在平晶中央加压,若干涉条纹向内跑,则说明测量面中间是()。 A、平B、凸C、凹
在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，则干涉条纹的情况为( )。A.中央明纹是白色的B.红光条纹较密C.紫光条纹间距较大D.干涉条纹为白色
在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，干涉条纹的情况为（ ）。A．中央明纹是白色的B．红光条纹较密C．紫光条纹间距较大D．干涉条纹为白色
用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，则干涉条纹的情况为（）。A、中央明纹是白色的B、红光条纹较密C、紫光条纹间距较大D、干涉条纹为白色
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。A、被测表面不光洁B、被测表面平面度很差C、被测表面有毛刺D、非金属材料表面折光不好
在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，干涉条纹的情况为（）A、中央明纹是白色的B、红光条纹较密C、紫光条纹间距较大D、干涉条纹为白色
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A、中凹B、中凸C、平面D、波形
用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面A、平B、球C、波形D、倾斜
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。
单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉
单选题用平晶检定千分尺工作面时出现圆形干涉条纹，则说明工作面为（）面A平B球C波形D倾斜
单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉
单选题用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A中凹B中凸C平面D波形
单选题用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A0.9μmB0C1.8μm
单选题用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（）。A0.9μmB0C1.8μm
填空题将平面平晶放在工件表面上，如果工件表面是标准平面，则产生的干涉条纹是（）；如果工件表面呈凸、凹，则将看到若干个（）条纹。
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
单选题在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，干涉条纹的情况为（）。A中央明纹是白色的B红光条纹较密C紫光条纹间距较大D干涉条纹为白色
单选题外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A光波法B光干涉法C光条纹法D干涉条纹法
单选题在杨氏双缝实验中，若用白光作光源，则干涉条纹的情况为（）。A中央明纹是白色的B红光条纹较密C紫光条纹间距较大D干涉条纹为白色