千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。
用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。 A、0.9μmB、0C、1.8μm
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。 A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉
用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm
长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法分段检定C、用自准直仪以节距法检定
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）A、0.01mmB、0.02umC、0.03um
用平面平晶检查平面度时，如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时，其平面度是（）。A、0.9μmB、0C、0.3μm
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm
若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶以技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
若有一量具工作面的平面度为0.010mm，为了达到检定结果的准确起见，该工作面的平面度采用合适的检定方法为（）。A、用刀口尺以光隙法检定B、用平晶的技术光波干涉法检定C、用刀口尺以量块比较法检定
以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）A、0.03umB、0.05umC、0.10um
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。A、干涉条纹尽量少B、2条或4条C、3条或5条
单选题用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。A干涉条纹尽量少B2条或4条C3条或5条
单选题某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）A0.01mmB0.02umC0.03um
判断题检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。A对B错
单选题用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。A球面干涉B等厚干涉C等倾干涉
单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉
单选题长边尺寸为1000mm的直角尺，其工作面的平面度或直线度的检定，通常采用的检定方法是（）。A用刀口尺以光隙法检定B用平晶以技术光波干涉法分段检定C用自准直仪以节距法检定
单选题外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A光波法B光干涉法C光条纹法D干涉条纹法
填空题技术光波干涉法可以检定测量面的平面度，是利用光波（）原理。