单选题半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）A可靠性测定试验B可靠性鉴定试验C可靠性验收实验D环境应力筛选试验
单选题
半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）
A
可靠性测定试验
B
可靠性鉴定试验
C
可靠性验收实验
D
环境应力筛选试验
参考解析
解析：
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下列关于可靠性试验的说法，正确的有( )。A．可靠性试验是对产品的可靠性进行调查、分析和评价的一种手段，目的是使产品可靠性增长B．环境应力筛选试验不但可以提高产品的固有可靠性，还可以提高产品的可靠性水平C．可靠性增长试验本身并不能提高产品的可靠性，只有采取了有效的纠正措施产品的可靠性才能真正提高D．可靠性测定试验的目的是通过试验测定产品的可靠性水平E．可靠性验收试验的目的是对产品合格与否做出判定
下列关于可靠性增长试验的说法正确的是( )。A．可靠性增长试验是一个在规定的环境应力下，为暴露产品薄弱环节而进行的试验B．可靠性增长试验是通过发现故障、分析和纠正故障以及对纠正措施的有效性进行验证以提高产品可靠性水平的过程C．可靠性增长试验一般称为试验______改进______分析D．顾名思义，可靠性增长试验本身就能提高产品的可靠性
听力原文：可靠性验收试验是对已交付产品在规定条件下所做的试验，以验证产品可靠性不随生产条件的变化而降低。可靠性验收试验是一种统计试验，常采用的试验方案有( )。A．调整型抽样方案B．定时截尾试验方案C．序贯试验方案D．定数截尾试验方案E．计数抽样试验方案
关于不同可靠性试验类型的说法，正确的有（ ）。A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷
在不改变产品的失效机理的条件下，通过（），称这种超过正常应力水平下的寿命试验为加速寿命试验。A、提高工作环境的应力水平来加速产品的失效B、尽快地暴露产品设计过程中的缺陷，发现故障模式C、保证工作环境的应力水平来检测产品失效D、降低工作环境的应力水平来检测产品的失效E、隐藏产品的缺陷
对可靠性关键产品应采取的控制措施是（）。A、识别关键产品并编制可靠性关键产品清单B、提出专门的人才培训要求C、通过定期评审来评定可靠性关键产品控制和试验的有效性D、监控可靠性关键产品的设计、制造、试验、装配、维修及使用等全过程
关于可靠性增长试验条件的错误说法是（）。A、试验前不必制定可靠性增长试验大纲，不用试验前准备工作评审。B、剖面一般应与该产品的可靠性鉴定试验剖面一致。C、同一批产品通过性能试验与环境试验。D、受试产品应经过环境应力筛选。
关于可靠性鉴定试验的错误说法是（）。A、是验证产品的设计是否达到了规定的可靠性要求所做的试验。B、是产品可靠性的确认试验。C、属于验证试验，不是统计试验。D、是研发产品进入量产前的一种验证试验。
单选题下列关于可靠性试验的表述错误的是（ ）。A可靠性试验是实验室的试验B环境应力筛选试验不能提高产品固有可靠性，但通过改进设计和工艺等可以提高产品的可靠性水平C可靠性增长试验是通过发现故障，分析和纠正故障，以及对纠正措施的有效性进行验证以提高产品可靠性水平的过程D可靠性测定试验的目的是通过试验测定产品的可靠性水平
多选题在不改变产品的失效机理的条件下，通过（），称这种超过正常应力水平下的寿命试验为加速寿命试验。A提高工作环境的应力水平来加速产品的失效B尽快地暴露产品设计过程中的缺陷，发现故障模式C保证工作环境的应力水平来检测产品失效D降低工作环境的应力水平来检测产品的失效E隐藏产品的缺陷
多选题可靠性测定试验目的是测定产品的可靠性水平，方法是投入若干产品进行寿命试验，可分为（ ）。A可靠性增长试验B定时截尾试验C恒定应力加速寿命试验D定数截尾试验E环境应力试验