能谱仪通过接收元素的特征X射线进行成分分析,因此可以利用其确定材料中氢元素和锂元素的含量。

能谱仪通过接收元素的特征X射线进行成分分析,因此可以利用其确定材料中氢元素和锂元素的含量。


参考答案和解析
Si(Li) 半导体晶体

相关考题:

原子吸收光谱法是一种成分分析方法,可对六十多种金属和某些非金属元素进行定量测定,它广泛用于下述定量测定中的A、低含量元素B、元素定性C、高含量元素D、极微量元素E、微量元素

从能谱测井曲线可以确定地层中()。 A、各元素的含量B、各元素的放射强度C、各元素的能谱D、各元素的结构

在光源作用下,使材料中的元素被激发,不同元素发射不同特征的光,根据记录的系列谱线的波长和强度,对照谱线表确定材料中所含元素及其含量的仪器称为()A、红外线仪B、波谱仪C、能谱仪D、光谱仪

X射线荧光光谱仪可测出样品中的:().A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量

在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分,同时在进行多元素分析时,滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。

X射线荧光光谱分析中,对于不同元素的同名谱线,随着原子序数的增加,波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点,主要是由各种元素的化学成分决定的。

燃料完全燃烧所需的空气量大小与燃料中的()有关。A、可燃元素及含量B、碳元素及含量C、碳元素及氧含量D、碳、氢元素及含氧量

原子吸收光谱法是一种成分分析方法,可对六十多种金属和某些非金属元素进行定量测定,它广泛用于下述定量测定中的()。A、低含量元素B、元素定性C、高含量元素D、极微量元素

高锰钢材料中,除铁元素之外,它有两种元素含量都很高,它是()。A、碳元素和锌元素B、锰元素和硼元素C、碳元素和锰元素D、锰元素和硅元素

手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式,是检测镀层元素含量的。

用发射光谱进行元素定性分析依据是()。A、元素的特征谱线是否出现B、元素的特征谱线强度C、元素的含量D、样品的基体成分

X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。A、不连续B、连续C、散射D、相对

波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

可以用X射线荧光光谱仪测定的元素有()。A、硫B、钡C、锂D、铝

X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

原子吸收光谱法是基于从光源辐射出()的特征谱线,通过样品蒸气时,被蒸气中待测元素的基态原子所吸收,由辐射特征谱线减弱的程度,求出样品中待测元素含量。A、待测元素的分子B、待测元素的离子C、待测元素的电子D、待测元素的基态原子

X射线荧光光谱仪上,采用W靶X射线管适于分析重元素:Cr靶X射线管适于分析轻元素,而()靶X射线管则在一定程度上,却对轻、重元素的分析都能兼顾。

X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用()和()来接受被测元素特征光谱信号的。

X射线波长与元素原子序数的平方成(),因此,可根据其波长确定元素。A、正比B、线性C、反比D、涵数

X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

光谱定量分析确定元素含量的根据是()A、特征谱线B、灵敏线C、最后线D、元素的谱线强度

问答题对于钢材中的化学元素成分, (1)碳元素C含量对钢材的力学性能有什么影响,通过什么措施控制C含量? (2)硫元素S和磷元素P为什么是有害元素?通过什么措施控制S和P含量?

填空题特征X射线是由元素原子中()引起的,因此各元素都有特定的()和()电压,特征谱与原子序数之间服从()定律。

问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么?X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍(B)—铀(U),为什么不能分析轻元素(氢、氦和锂)?

单选题光谱定量分析确定元素含量的根据是()A特征谱线B灵敏线C最后线D元素的谱线强度

多选题手持式X射线荧光光谱分析仪,以下不可检测的元素成分是()AMoBBCSnDN

单选题用发射光谱进行元素定性分析依据是()。A元素的特征谱线是否出现B元素的特征谱线强度C元素的含量D样品的基体成分