从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是( )。A.过程处于统计控制状态B.具有足够的生产能力C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D.过程处于统计控制状态但过程能力不足

从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是( )。

A.过程处于统计控制状态

B.具有足够的生产能力

C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力

D.过程处于统计控制状态但过程能力不足


相关考题:

质量统计工具中SPC的中文含义是()。 A、分析过程控制B、统计过程控制C、检测过程控制D、记录过程控制

分析用控制图主要分析内容有( )。A.该过程的不合格品率B.该过程的能力指数是否符合规定要求(也称技术稳态)C.所分析的过程是否处于统计控制状态(也称统计稳态)D.所分析的过程是否满足顾客要求E.分析过程的合格品率

控制用控制图的主要作用是( )。A.实时分析数据,监视过程运行状态B.替代抽样检验SXB 控制用控制图的主要作用是( )。A.实时分析数据,监视过程运行状态B.替代抽样检验C.分析过程是否处于统计控制状态D.剔除不合格品

根据上述计算结果,判断过程( )。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

使用控制用均值一极差控制图监控过程时,若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外,则( )。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、

关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

关于统计控制状态的谫法,正确的有( )。A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态

关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的

关于统计控制状态与失控状态的说法,正确的有( )。A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态

绘制分析用控制图阶段的主要工作有( )。A.分析过程是否处于统计控制状态B.分析过程是否存在偶然波动C.实时分析数据,监控过程长期运行状态D.分析过程的过程能力指数是否满足要求E.分析过程合格率低的原因

加工一种轴承,其规格为(10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。下列推断中,正确的是( )。A.过程处于统计控制状态和技术控制状态B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态

关于过程状态的说法,正确的有( )。A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变C.过程处于统计控制状态时,CP≥1 D.异常因素会导致过程失控E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态

分析用控制图主要分析内容有( )。A.该过程的不合格品率B.该过程的能力指数是否满足要求(也称技术稳态)C.所分析的过程是否处于统计控制状态(也称统计稳态)D.所分析的过程是否满足顾客要求E.分析过程的合格品率

下列有关统计过程控制(SPC)的叙述,恰当的有( )。A.统计过程控制是为了贯彻预防性原则B.统计过程控制是为了贯彻谨慎性原则C.统计过程控制应用统计技术对过程中的各个阶段进行评估和监控D. SPC中的主要工具是控制图E. SPC可以判断过程的异常,及时预警

控制用控制图的主要作用是()。A.实时分析数据,监视过程运行状态B.替代抽样检验C.分析过程是否处于统计控制状态D.剔除不合格品

加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。根据上述计算结果,判断过程()。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

SPC的全称为统计过程控制。

质量统计工具中SPC的中文含义是()A、分析过程控制B、统计过程控制C、检测过程控制

零不合格过程是一种理想的质量保证状态,从统计角度来看,不存在完全绝对的“零不合格过程”,只能通过(),向零不合格过程逼近。A、质量控制B、严把质量C、过程的持续改进D、过程涉及

以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A、过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

统计质量管理中所采用的SPC方法从探测质量问题的角度上看具有什么显着特点?

从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A、过程处于统计控制状态B、具有足够的生产能力C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D、过程处于统计控制状态但过程能力不足

单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是(  )。[2006年真题]A过程处于统计控制状态B具有足够的生产能力C过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D过程处于统计控制状态但过程能力不足

单选题以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

单选题加工一种轴承,其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ=10.04mm,σ=0.02mm 根据以上材料,回答:下列论述正确的是()。A过程处于统计控制状态和技术控制状态B过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D过程未处于统计控制状态和技术控制状态

单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A过程处于统计控制状态B具有足够的生产能力C过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D过程处于统计控制状态但过程能力不足

问答题统计质量管理中所采用的SPC方法从探测质量问题的角度上看具有什么显着特点?