单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A过程处于统计控制状态B具有足够的生产能力C过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D过程处于统计控制状态但过程能力不足

单选题
从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。
A

过程处于统计控制状态

B

具有足够的生产能力

C

过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力

D

过程处于统计控制状态但过程能力不足


参考解析

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过程能力指数Cp小于1.0表示( )。A.过程能力不足B.应该进过程C.应减少过程输出特性的表差D.过程未处于统计控制状态E.理论小过程中心和技术中心的偏移量

根据上述计算结果,判断过程( )。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

关于统计控制状态与失控状态的说法,正确的有( )。A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态

绘制分析用控制图阶段的主要工作有( )。A.分析过程是否处于统计控制状态B.分析过程是否存在偶然波动C.实时分析数据,监控过程长期运行状态D.分析过程的过程能力指数是否满足要求E.分析过程合格率低的原因

加工一种轴承,其规格为(10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。下列推断中,正确的是( )。A.过程处于统计控制状态和技术控制状态B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态

关于过程状态的说法,正确的有( )。A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变C.过程处于统计控制状态时,CP≥1 D.异常因素会导致过程失控E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态

A.过程能力不足 B.应改进过程C应减小过程输出特性的标准差 D.过程未处于统计控制状态E.应减小过程中心和技术中心的偏移量

从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。 A.过程处于统计控制状态B.具有足够的生产能力C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D.过程处于统计控制状态但过程能力不足

关于统计控制状态的说法,正确的有( )。A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态

使用控制用均值一极差控制图监控过程时,若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外,则( )。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设

过程改进策略包括( )两个环节。A.判断过程是否处于统计控制状态 B.评价过程能力C.判断过程是否处于异常状态 D.判断过程的离散程度E.质量改进

将控制限作为控制标准进行日常控制,必须满足的条件有()。 A.过程处于统计控制状态 B.过程能力指数满足要求 C.过程存在异常因素 D.过程能力尚未充足E.控制限与公差限不一致

关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的

关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数CpE.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。根据上述计算结果,判断过程()。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

过程改进策略包括()两个环节。A、判断过程是否处于统计控制状态B、评价过程能力C、判断过程是否处于异常状态D、判断过程的离散程度E、质量改进

以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A、过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

作为分析用控制图,主要分析的内容包括()A、分析生产过程是否处于统计控制状态B、分析该过程的过程能力指数是否满足要求C、计算过程的不合格品率D、计算过程的偏移系数

过程改进策略包括()两个环节。A、判断过程是否处于统计控制状态B、评价过程能力C、判断过程是否处于异常状态D、判断过程的离散程度

从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A、过程处于统计控制状态B、具有足够的生产能力C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D、过程处于统计控制状态但过程能力不足

控制图是对过程值()进行测定、记录、评估和监察过程是否处于统计控制状态的一种用统计方法设计的图。

多选题过程改进策略包括()两个环节。A判断过程是否处于统计控制状态B评价过程能力C判断过程是否处于异常状态D判断过程的离散程度E质量改进

单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是(  )。[2006年真题]A过程处于统计控制状态B具有足够的生产能力C过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D过程处于统计控制状态但过程能力不足

单选题以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

单选题加工一种轴承,其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ=10.04mm,σ=0.02mm 根据以上材料,回答:下列论述正确的是()。A过程处于统计控制状态和技术控制状态B过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D过程未处于统计控制状态和技术控制状态

多选题控制图上点出界,则表明(  )。[2007年真题]A过程处于技术控制状态B过程可能存在异常因素C小概率事件发生D过程稳定性较好E过程未处于统计控制状态