根据上述计算结果，判断过程（ ）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态
根据上述计算结果，判断过程（ ）。
A.处于统计控制状态和技术控制状态
B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态
C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态
D.未处于统计控制状态和技术控制状态
相关考题：
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A．状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B．状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C．状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D．状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
关于统计控制状态与失控状态的说法，正确的有（ ）。A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时，过程处于统计控制状态C.在统计控制状态下，过程的波动达到最小，不可能再改进D.过程处于失控状态时，无法估计过程能力E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判定过程处于统计控制状态
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态，（ ）的控制线延长能作为控制用的控制图。A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B.状态II，统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态 C.状态III，统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
加工一种轴承，其规格为（10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。下列推断中，正确的是（ ）。A.过程处于统计控制状态和技术控制状态B.过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态
根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为（ ）。A.状态I，统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态B.状态II，统计控制状态未达到，技术控制状态达到C.状态III，统计控制状态达到，技术控制状态未达到D.状态IV，统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态E.状态V，统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到
关于过程状态的说法，正确的有（ ）。A.在统计控制状态下，可以预测过程波动的大小B.当过程处于失控状态时，过程的分布将发生改变C.过程处于统计控制状态时，CP≥1 D.异常因素会导致过程失控E.当控制图上所有点子都落在控制限内时，可以判断过程一定处于统计控制状态
下列不属于消防控制室不能远程手动启停风机的故障原因是（ ）。A.与多线控制盘配套用的切换模块损坏B.多线控制盘未解锁处于“手动禁止”状态C.风机控制柜处于“手动”状态D.风机的控制柜未处于“手动”状态
关于统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时，控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态
使用控制用均值一极差控制图监控过程时，若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外，则（ ）。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设
在过程控制中，最理想的状态是（ ）。A.统计控制状态达到，技术控制状态未达到B.统计控制状态未达到，技术控制状态达到C.统计控制状态与技术控制状态均达到D.统计控制状态与技术控制状态均未达到
关于处于统计控制状态的过程的说法，正确的有（ ）。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时，可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的
关于技术控制状态和统计控制状态的说法，正确的有（ ）。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列，则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数CpE.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm，要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到：μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。根据上述计算结果，判断过程（）。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态，未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态，处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态
加工一种轴承，其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图，未显示异常。计算得到： μ=10.04mm，σ=0.02mm 根据以上材料，回答：下列论述正确的是（）。A、过程处于统计控制状态和技术控制状态B、过程处于统计控制状态，未处于技术控制状态C、过程未处于统计控制状态，处于技术控制状态D、过程未处于统计控制状态和技术控制状态
分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种（）的控制线延长能作为控制用的控制图。A、状态Ⅰ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B、状态Ⅱ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C、状态Ⅲ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D、状态Ⅳ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A、过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A状态Ⅰ ：统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B状态Ⅱ ：统计控制状态未达到稳态，技术控制状态达到稳态C状态Ⅲ ：统计控制状态达到稳态，技术控制状态未达到稳态D状态Ⅳ ：统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态
单选题从SPC的角度看，一个合格的过程应当具备的条件是（ ）。[2006年真题]A过程处于统计控制状态B具有足够的生产能力C过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D过程处于统计控制状态但过程能力不足
多选题根据状态是否达到统计控制状态与技术控制状态，可将状态分为（ ）。A状态Ⅰ，统计控制状态与技术控制状态同时达到，是最理想的状态B状态Ⅱ，统计控制状态未达到，技术控制状态达到C状态Ⅲ，统计控制状态达到，技术控制状态未达到D状态Ⅳ，统计控制状态与技术控制状态均未达到，是最不理想的状态E状态Ⅴ，统计控制状态永远无法达到，技术控制状态始终能够达到
单选题以下关于过程统计控制状态，说法不正确的是（）A过程中没有异常因素影响，则说过程处于过程统计控制状态B过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C过程处于过程统计控制状态，则说明过程的产品处于规格限内D过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件
单选题在过程控制中，最理想的状态是（ ）。A统计控制状态达到，技术控制状态未达到B统计控制状态未达到，技术控制状态达到C统计控制状态与技术控制状态均达到D统计控制状态与技术控制状态均未达到