当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为()A.远场区B.近场区C.过渡区D.阴影区
利用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度时，探头移动方向应与探头的分割面相垂直。
A型显示中，横坐标显示是（）A、反射波幅度大小B、探头移动距离C、反射波传播时间D、缺陷尺寸大小
当水浸探头触水导通时，将合路信号送到传感器，产生电压变化，当电压低于1.25伏应会产生告警。
单斜探头检测时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
对于超声波检测法中的测长法，在仪器灵敏度一定的条件下，探头沿缺陷长度方向平行移动，当缺陷高度降到规定位置时，探头移动的距离，即为缺陷的指示长度，上述方法被称为相对灵敏度测长法。
当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（）A、远场区B、近场区C、过渡区D、阴影区
对检测探头来讲，干扰信号是相对的，例如（）。A、对探伤来讲，材质变化、尺寸变化是干扰源B、对材质分选讲，缺陷情况、尺寸变化是干扰源C、对尺寸测量讲，缺陷情况、材质变化是干扰源D、以上三句全对
探头由于离开试件距离变化而引起缺陷信号幅度变化的效应，称为（）。A、末端效应B、提离效应C、灵敏度效应D、速度效应
A型显示中，横坐标显示是（）。A、反射波幅度大小B、 探头移动距离C、 反射波传播时间（或距离）D、 缺陷尺寸大小
利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。
A型扫描显示中，水平基线代表：（）A、超声回波的幅度大小B、探头移动距离C、声波传播时间D、缺陷尺寸大小
扫查时探头移动区域须保证探头主声束扫查区域之和不小于轮座全长。
当探头距缺陷水平距离不变时，缺陷比探头尺寸小产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（）。A、远场区B、近场区C、过渡区D、阴影区
簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直
当水浸探头触水导通时，将合路信号送到传感器，产生电压变化，当电压低于（）应会产生告警。
单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
判断题对于超声波检测法中的测长法，在仪器灵敏度一定的条件下，探头沿缺陷长度方向平行移动，当缺陷高度降到规定位置时，探头移动的距离，即为缺陷的指示长度，上述方法被称为相对灵敏度测长法。A对B错
单选题单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）A来自工作表面的杂波B来自探头的噪声C工作上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
单选题单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A来自工件表面的杂波B来自探头的噪声C工件上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
判断题利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。A对B错
单选题A型显示中，横坐标显示是（）。A反射波幅度大小B 探头移动距离C 反射波传播时间（或距离）D 缺陷尺寸大小
单选题A型扫描显示中，水平基线代表：（）A超声回波的幅度大小B探头移动距离C声波传播时间D缺陷尺寸大小
单选题探头由于离开试件距离变化而引起缺陷信号幅度变化的效应，称为（）。A末端效应B提离效应C灵敏度效应D速度效应
多选题簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A大尺寸B小尺寸C联合双直
单选题对检测探头来讲，干扰信号是相对的，例如（）。A对探伤来讲，材质变化、尺寸变化是干扰源B对材质分选讲，缺陷情况、尺寸变化是干扰源C对尺寸测量讲，缺陷情况、材质变化是干扰源D以上三句全对
单选题A型显示中，横坐标显示是（）A反射波幅度大小B探头移动距离C反射波传播时间D缺陷尺寸大小