当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为()A.远场区B.近场区C.过渡区D.阴影区
超声波横波斜探头检测中缺陷的评定应当包括（）A、缺陷水平位置B、缺陷垂直深度C、缺陷的性质D、缺陷的尺寸
A型显示中，横坐标显示是（）A、反射波幅度大小B、探头移动距离C、反射波传播时间D、缺陷尺寸大小
A型扫描显示中，屏幕上水平显示表示（）A、探头移动距离B、缺陷回波幅度大小C、缺陷大小D、声波传播时间
单斜探头检测时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（）A、远场区B、近场区C、过渡区D、阴影区
A型显示中，横坐标显示是（）。A、反射波幅度大小B、 探头移动距离C、 反射波传播时间（或距离）D、 缺陷尺寸大小
A型扫描显示中，水平基线代表：（）A、超声回波的幅度大小B、探头移动距离C、声波传播时间D、缺陷尺寸大小
簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直
斜探头横波探伤时，缺陷声程W已知，则它的水平距离可用（）计算。斜探头横波探伤时，缺陷声程已知，则它的垂直距离由公式（）计算。
用入射角为36.5°的有机玻璃楔块制作斜探头，用一次声探测钢制工件时，测得某缺陷的声程为141mm，求探头距缺陷的水平距离与缺陷距离探测面的深度？（CL＝2730m/s；CS＝3250m/s）
单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量（），探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。A、增加B、减小C、不变
单选题探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量（），探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。A增加B减小C不变
单选题单斜探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）A来自工作表面的杂波B来自探头的噪声C工作上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
单选题单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A来自工件表面的杂波B来自探头的噪声C工件上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
单选题A型扫描显示中，屏幕上水平显示表示（）A探头移动距离B缺陷回波幅度大小C缺陷大小D声波传播时间
单选题A型显示中，横坐标显示是（）。A反射波幅度大小B 探头移动距离C 反射波传播时间（或距离）D 缺陷尺寸大小
单选题A型扫描显示中，水平基线代表：（）A超声回波的幅度大小B探头移动距离C声波传播时间D缺陷尺寸大小
填空题斜探头横波探伤时，缺陷声程W已知，则它的水平距离可用（）计算。斜探头横波探伤时，缺陷声程已知，则它的垂直距离由公式（）计算。
单选题单斜探头检测时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）。A来自工件表面的杂波B来自探头的噪声C工件上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
多选题超声波横波斜探头检测中缺陷的评定应当包括（）A缺陷水平位置B缺陷垂直深度C缺陷的性质D缺陷的尺寸
多选题簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A大尺寸B小尺寸C联合双直
问答题用入射角为36.5°的有机玻璃楔块制作斜探头，用一次声探测钢制工件时，测得某缺陷的声程为141mm，求探头距缺陷的水平距离与缺陷距离探测面的深度？（CL＝2730m/s；CS＝3250m/s）
单选题A型显示中，横坐标显示是（）A反射波幅度大小B探头移动距离C反射波传播时间D缺陷尺寸大小
单选题当探头横向移动时，比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化，这个区域称为（）A远场区B近场区C过渡区D阴影区