簿的试件或近距离缺陷探伤时,宜采用()探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直

簿的试件或近距离缺陷探伤时,宜采用()探头.

  • A、大尺寸
  • B、小尺寸
  • C、联合双直

相关考题:

用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。()此题为判断题(对,错)。

用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()

采用超声法对钢结构进行内部缺陷探伤时,如材料较厚时宜选用发射频率较高的探头。

磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度?()A、直探头探伤法B、脉冲反射法C、斜探头探伤法D、穿透法

磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用交流电流磁化试件

磁粉探伤中,为了有效地检出近表面缺陷,宜采用交流电流磁化试件

对方形截面的导电试件,选用涡流探伤时可采用()。A、穿过式探头B、旋转式探头C、混合式探头D、以上三者都可以

磁粉探伤中为了有效地检出试件的表面缺陷,宜采用()电流磁化试件。

斜探头横波探伤时,缺陷声程W已知,则它的水平距离可用()计算。斜探头横波探伤时,缺陷声程已知,则它的垂直距离由公式()计算。

探伤仪测距按深度调节,全长为钢中横波200mm,用K2探头探测厚80m试件,在6.3格发现一缺陷,则缺陷至探头入射点水平距离是()mm。

用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。

接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。

大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()

用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

填空题对港口吊车吊臂深部的缺陷定期探伤,宜采用()探伤;对涂覆防锈漆的输油管外表面缺陷探伤,宜采用()探伤。

判断题用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。A对B错

填空题用直探头探伤,当缺陷小于声束截面时,一般采用()定量;当缺陷大于声束截面时,一般采用()或()定量。

判断题磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用交流电流磁化试件A对B错

单选题对方形截面的导电试件,选用涡流探伤时可采用()。A穿过式探头B旋转式探头C混合式探头D以上三者都可以

单选题采用什么超声探伤技术不能测出缺陷深度()A直探头探伤法B脉冲反射法C斜探头探伤法D穿透法

填空题大厚度的平板形试件用直探头按缺陷回波法探伤时,如无缺陷,则探伤图形中只有发射脉冲和底波,如发现缺陷,则在底波之前显示()

填空题磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

填空题磁粉探伤中为了有效地检出试件的表面缺陷,宜采用()电流磁化试件。

填空题接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。

多选题簿的试件或近距离缺陷探伤时,宜采用()探头.A大尺寸B小尺寸C联合双直

判断题磁粉探伤中,为了有效地检出近表面缺陷,宜采用交流电流磁化试件A对B错