当探头横向移动时,比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化,这个区域称为()A、远场区B、近场区C、过渡区D、阴影区

当探头横向移动时,比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化,这个区域称为()

  • A、远场区
  • B、近场区
  • C、过渡区
  • D、阴影区

相关考题:

按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定:钢板超声波检测对缺陷边界范围或指示长度测量方法,以下叙述正确的是:() A.用双晶直探头测量时,探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时,以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点D.底面第一次底波B1

当探头横向移动时,比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化,这个区域称为()A.远场区B.近场区C.过渡区D.阴影区

利用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度时,探头移动方向应与探头的分割面相垂直。

A型显示中,横坐标显示是()A、反射波幅度大小B、探头移动距离C、反射波传播时间D、缺陷尺寸大小

A型扫描显示中,屏幕上水平显示表示()A、探头移动距离B、缺陷回波幅度大小C、缺陷大小D、声波传播时间

单斜探头检测时,在近区有幅度波动较快,探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是()A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声

对于超声波检测法中的测长法,在仪器灵敏度一定的条件下,探头沿缺陷长度方向平行移动,当缺陷高度降到规定位置时,探头移动的距离,即为缺陷的指示长度,上述方法被称为相对灵敏度测长法。

当采用谱分析的方法时,必须采用()采集和记录声发射信号。A、低频探头B、高频探头C、窄频带探头D、宽频带探头

A型显示中,横坐标显示是()。A、反射波幅度大小B、 探头移动距离C、 反射波传播时间(或距离)D、 缺陷尺寸大小

利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。

A型扫描显示中,水平基线代表:()A、超声回波的幅度大小B、探头移动距离C、声波传播时间D、缺陷尺寸大小

当探头距缺陷水平距离不变时,缺陷比探头尺寸小产生的信号幅度会发生起伏变化,这个区域称为()。A、远场区B、近场区C、过渡区D、阴影区

簿的试件或近距离缺陷探伤时,宜采用()探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直

探伤时加大探头压力,回波幅度增高,这是由于压力所产生的机械能部分转换为声能的结果。

当示波器的探头开关置为“X10”档,则应将测得信号幅度的数值乘以10。

单探头探伤时,在近区有幅度波动较快,探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是:()。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声

THDS-A(哈科所)设备热靶曲线有横向跳变时,则说明故障可能是探头温控板故障。

判断题对于超声波检测法中的测长法,在仪器灵敏度一定的条件下,探头沿缺陷长度方向平行移动,当缺陷高度降到规定位置时,探头移动的距离,即为缺陷的指示长度,上述方法被称为相对灵敏度测长法。A对B错

单选题单斜探头探伤时,在近区有幅度波动较快,探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是()A来自工作表面的杂波B来自探头的噪声C工作上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声

单选题单探头探伤时,在近区有幅度波动较快,探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是:()。A来自工件表面的杂波B来自探头的噪声C工件上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声

判断题利用双晶直探头确定缺陷边界或指示长度时,探头移动方向应与探头分割面平行。A对B错

单选题A型显示中,横坐标显示是()。A反射波幅度大小B 探头移动距离C 反射波传播时间(或距离)D 缺陷尺寸大小

单选题A型扫描显示中,水平基线代表:()A超声回波的幅度大小B探头移动距离C声波传播时间D缺陷尺寸大小

单选题单斜探头检测时,在近区有幅度波动较快,探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是()。A来自工件表面的杂波B来自探头的噪声C工件上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声

多选题簿的试件或近距离缺陷探伤时,宜采用()探头.A大尺寸B小尺寸C联合双直

单选题A型显示中,横坐标显示是()A反射波幅度大小B探头移动距离C反射波传播时间D缺陷尺寸大小

单选题当探头横向移动时,比探头尺寸小的缺陷所产生的信号幅度会发生起伏变化,这个区域称为()A远场区B近场区C过渡区D阴影区