压电晶片的两个工作面上积聚的电荷量与()成正比。A、工作面的面积B、作用在晶片上的压强C、作用在晶片上的力D、晶片厚度

压电晶片的两个工作面上积聚的电荷量与()成正比。

  • A、工作面的面积
  • B、作用在晶片上的压强
  • C、作用在晶片上的力
  • D、晶片厚度

相关考题:

压电晶片的振动频率于晶片厚度有关。() 此题为判断题(对,错)。

沿机械轴y轴方向的力作用在石英压电晶片上所产生的电荷量与晶体切片的尺寸无关。()

探头中压电晶片的基频取决于()A.激励电脉冲的宽度B.发射电路阻尼电阻的大小C.晶片材料和厚度D.晶片的机电耦合系数

换能器频率与晶片厚度有关,晶片越(),频率越(),材料对声能的衰减越()

压电晶片的压电电压常数大,则说明该晶片发射性能好。

同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比,近场区长度与晶片面积成正比。

晶片厚度与晶片的频率密切相关,晶片厚度越厚,频率越低。

探头中压电晶片的基频取决于()。A、激励电脉冲的宽度B、发射电路阻尼电阻的大小C、晶片材料和厚度D、晶片的机电耦合系数

腐蚀时量测频率的操作方法是:()A、在热水槽中取出腐蚀篮,用塑料镊子夹取少数晶片到抹布上B、擦干晶片,在测频仪上量测晶片频率C、夹取晶片时动作轻重都可D、量测前不用校对频率标晶

探头中使用压电陶瓷晶片的优点是()。A、激励电脉冲的宽度B、发射电路阻尼电阻的大小C、晶片的材料和厚度D、晶片的机电耦合系数

超声波探头所选用压电晶片的频率与晶片厚度有密切关系,频率越高,晶片越薄。

压电晶片的压电电压常数大,则说明该晶片()。

探头的频率取决于()。A、晶片的厚度B、晶片材料的声速C、晶片材料的声阻抗D、晶片材料的密度

用石英晶体制作的压电式传感器中,晶面上产生的()与作用在晶面上的压强成正比,而与晶片的()和面积无关。

下列关于压电效应和压电材料的描述,正确的是( )A、在压电晶片上施加机械压力其表面可产生电荷,这种现象为逆压电效应B、在压电晶片上施加交变电信号可产生晶片的机械振动,这种现象为正压电效应C、压电材料的厚度与超声响应频率无关D、压电材料一般需要磁场极化处理E、与高频率超声探头相比,低频率超声探头采用较薄的压电材料

压电石英晶体表面上产生的电荷密度与()。A、晶体厚度成反比B、晶体面积成正比C、作用在晶片上的压力成正比D、剩余极化强调成正比

用石英晶体制作的压电传感器,晶面上产生的电压与作用在晶面上外力成正比,而与晶片的厚度和面积无关。

超声波探头的压电晶片的振动频率与晶片厚度有什么关系?

石英晶体()压电效应产生的电荷量与晶片的几何尺寸无关,而()压电效应产生的电荷量与晶片的几何尺寸有关;压电陶瓷是一种()铁电体。

若压电晶片的厚度为30mm,晶片的声速为3000m/s,则发射声波的频率为()。

单选题压电晶片的两个工作面上积聚的电荷量与()成正比。A工作面的面积B作用在晶片上的压强C作用在晶片上的力D晶片厚度

问答题超声波探头的压电晶片的振动频率与晶片厚度有什么关系?

单选题探头中压电晶片的基频取决于()A激励电脉冲的宽度B发射电路阻尼电阻的大小C晶片材料和厚度D晶片的机电耦合系数

单选题探头的频率取决于()。A晶片的厚度B晶片材料的声速C晶片材料的声阻抗D晶片材料的密度

填空题若压电晶片的厚度为30mm,晶片的声速为3000m/s,则发射声波的频率为()。

填空题石英晶体()压电效应产生的电荷量与晶片的几何尺寸无关,而()压电效应产生的电荷量与晶片的几何尺寸有关;压电陶瓷是一种()铁电体。

判断题同频率的探头其扩散角与探头晶片尺寸成反比,近场区长度与晶片面积成正比。A对B错