如果探测面毛糙，应该采用( )。A、不太高频率的探头B、较高频率的探头C、硬保护膜探头D、大晶片探头
频率标明为3.5MHz的探头属于A、变频探头B、宽带探头C、中心频率固定的探头D、宽频带发射、宽频带接收探头E、较宽频探头
在多数软组织中，衰减系数的变化与探头频率近似为A、与探头频率成反比B、频率的平方C、与探头频率成对数关系D、与探头频率成正比E、频率的立方
在多数软组织中，衰减系数的变化与探头频率近似为A.与探头频率成反比B.频率的平方C.与探头频率成对数关系D.与探头频率成正比E.频率的立方
横向分辨力为（）。A、取决于多普勒频移B、取决于声束直径C、提高探头频率D、不能在远场测量E、以上都不对
侧向分辨力取决于（）A、多普勒频移B、声束聚焦技术C、降低探头频率D、脉冲的波长E、近场还是远场
侧向分辨力取决于（）A、多普勒频移B、声束聚焦技术C、降低探头频率D、不能在远场测量E、脉冲波的波长
探头上标识的2.5MHz表示（）A、仪器工作频率B、仪器滤波频率C、探头工作频率D、脉冲触发频率
超声波在介质中的传播速度主要取决于（）A、脉冲宽度B、频率C、探头直径D、超声波通过的材质和波型
为减小超声波通过介质的衰减，宜采用（）进行探伤。A、 低频率探头B、 高频率探头C、 高于25MHz的探头D、 任意探头
检测晶粒粗大的材料，应使用（）。A、高频率的探头B、底频率的探头C、双晶探头D、表面波探头
探头晶片面积相同，高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。
钢管超声探伤中，探头不变时，仪器重复频率的选择只取决于探头相对管子的转速。
纵向分辨力（）。A、取决于改善聚集带B、取决于TGC（STC.的斜率C、通过DSC而改善D、可通过提高探头频率改善E、通过声透镜改善
探头的近场长度主要取决于（）。A、芯片厚度B、探头外形尺寸C、芯片直径和频率D、探头的种类
自动探伤中可能的最大扫查速度主要取决于（）。A、探头功率B、耦合问题C、检查装置的重复频率
单选题探头的近场长度主要取决于（）。A芯片厚度B探头外形尺寸C芯片直径和频率D探头的种类
单选题纵向分辨力（）。A取决于改善聚集带B取决于TGC（STC.的斜率C通过DSC而改善D可通过提高探头频率改善E通过声透镜改善
单选题纵向分辨力（ ）。A取决于改善聚集带B取决于TCC（STC）的斜率C通过DSC而改善D可通过提高探头频率改善E通过声透镜改善
单选题检测晶粒粗大的材料，应使用（）。A高频率的探头B底频率的探头C双晶探头D表面波探头
单选题侧向分辨力取决于（）A多普勒频移B声束聚焦技术C降低探头频率D脉冲的波长E近场还是远场
判断题钢管超声探伤中，探头不变时，仪器重复频率的选择只取决于探头相对管子的转速。A对B错
单选题探头的频率取决于（）。A晶片的厚度B晶片材料的声速C晶片材料的声阻抗D晶片材料的密度
单选题探头上标识的2.5MHz表示（）A仪器工作频率B仪器滤波频率C探头工作频率D脉冲触发频率
单选题自动探伤中可能的最大扫查速度主要取决于（）。A探头功率B耦合问题C检查装置的重复频率
填空题探头的工作频率，主要取决于压电芯片的（）和（）。