收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。（）此题为判断题(对，错)。
检验近表面缺陷，最有效的方法是（ ）。A.可变角探头B.直探头C.斜探头D.收/发联合双晶探头
检验近表面缺陷时,最好选用联合双晶探头。() 此题为判断题(对，错)。
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收发联合双晶探头
检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
判断题双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A对B错
填空题检验（）缺陷，有效的方法是采用收发联合双晶探头。
判断题检验近表面缺陷时，最好选用联合双晶探头。A对B错
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A可变角探头B直探头C斜探头D收/发联合双晶探头
单选题检验近表面缺陷，最有效地方法是（）A可变角的探头B直探头C斜探头D收/发联合双晶探头
单选题检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A可变角探头B直探头C斜探头D收/发联合双晶探头
判断题检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。A对B错
判断题收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。A对B错
单选题双晶探头用于探测工件（）缺陷。A近表面B表面C内部D平面形
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A可变角探头B直探头C斜探头D收发联合双晶探头
判断题检验近表面缺陷最有效的方法是采用收发联合双晶探头。A对B错