通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。 A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、均不能
长方体锻件最主要检测方向是（）。A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 直探头垂直的两端面检测
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收发联合双晶探头
检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法
联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出
轴类锻件最主要检测方向是（）。A、轴向直探头检测B、径向直探头检测C、斜探头外圆面轴向检测D、斜探头外圆面周向检测
双晶直探头的最主要用途是（）。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测
饼类锻件最主要探测方向是（）A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 斜探头侧面检测
接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头
簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A、大尺寸B、小尺寸C、联合双直
接近探侧面的且与其平行的缺陷，用下列探头哪一个检出效果最佳（）。A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头
检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头
通常所称的游动缺陷回波是指用（）探测到的。A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、联合单探头
单选题接近探侧面的且与其平行的缺陷，用下列探头哪一个检出效果最佳（）。A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头
单选题联合双直探头的最主要用途是：（）A探测近表面缺陷B精确测定缺陷长度C精确测定缺陷高度D用于表面缺陷探伤
单选题双晶直探头的最主要用途是（）。A探测近表面缺陷B精确测定缺陷长度C精确测定缺陷高度D用于表面缺陷检测
单选题长方体锻件最主要检测方向是（）。A 直探头端面检测B 直探头侧面检测C 斜探头端面检测D 直探头垂直的两端面检测
单选题接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）。A可变角探头B直探头C斜探头D收/发联合双晶探头
单选题检验近表面缺陷，最有效的探头是（）A可变角探头B直探头C斜探头D收/发联合双晶探头
单选题饼类锻件最主要探测方向是：（）A直探头端面探伤B直探头侧面探伤C斜探头端面探伤D斜探头侧面探伤
单选题轴类锻件最主要探测方向是：（）A轴向直探头探伤B径向直探头探伤C斜探头外圆面轴向探伤D斜探头外圆面周向探伤
单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A单斜探头法B单直探头法C双斜探头前后串列法D分割式双直探头法
单选题检验近表面缺陷，最有效的方法是（）A可变角探头B直探头C斜探头D收发联合双晶探头
多选题簿的试件或近距离缺陷探伤时，宜采用（）探头.A大尺寸B小尺寸C联合双直
填空题联合双直探头有（）块压电晶片，在电路上和声路上（），晶片前装有（），此种探头有盲区（），有助于（）的检出