厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A、两个缺陷当量相同B、材质衰减大的锻件中缺陷当量小C、材质衰减小的锻件中缺陷当量小D、以上都不对
厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）
- A、两个缺陷当量相同
- B、材质衰减大的锻件中缺陷当量小
- C、材质衰减小的锻件中缺陷当量小
- D、以上都不对
相关考题：
直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为0、004dB/mm，前者底面回波为满幅度的80%时，则后者底面回波应( )。A、5%B、10%C、20%D、40%
直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB，两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5%B.10%C.20%D.40%
直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差5DB，材质衰减均为0.004DB/mm，前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%，则后者的底面回波应为满幅度的()A.5%B.10%C.20%D.40%
厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（Φ2mm平底孔），在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷，则（）A、两个缺陷当量相同B、衰减大的锻件中缺陷当量小C、衰减小的锻件中缺陷当量小D、不一定
直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅（100%）高，则后者的底面回波应是满幅度的：（）A、40％B、20％C、10%D、5％
直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB，两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的（）A、5%B、10%C、20%D、40%
直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm，前者底面回波为满幅度80%时，则后者底面回波应为其（）。A、5%B、10%C、20%D、40%
直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻外，•若后者探测面毛糙，•与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的100％，则后者的底面回波应为满幅度的（）。A、5％B、10％C、20％D、40％
单选题厚度均为400mm但材质衰减不同的两个锻件，各自采用底波校正灵敏度（Φ2mm平底孔），在工件中间相同声程处发现相同波高的缺陷，则（）A两个缺陷当量相同B衰减大的锻件中缺陷当量小C衰减小的锻件中缺陷当量小D不一定
单选题厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A两个缺陷当量相同B材质衰减大的锻件中缺陷当量小C材质衰减小的锻件中缺陷当量小D以上都不对
单选题直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm，前者底面回波为满幅度80%时，则后者底面回波应为其（）。A5%B10%C20%D40%
单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB，两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的（）A5%B10%C20%D40%
单选题直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅（100%）高，则后者的底面回波应是满幅度的：（）A40％B20％C10%D5％
单选题用直探头检验钢锻件时，引起底波明显降低或消失的因素有（）A底面与探伤面不平行B工件内部有倾斜的大缺陷C工件内部有材质衰减大的部位D以上都有可能