直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm,前者底面回波为满幅度80%时,则后者底面回波应为其()。A、5%B、10%C、20%D、40%

直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm,前者底面回波为满幅度80%时,则后者底面回波应为其()。

  • A、5%
  • B、10%
  • C、20%
  • D、40%

相关考题:

直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0、004dB/mm,前者底面回波为满幅度的80%时,则后者底面回波应( )。A、5%B、10%C、20%D、40%

直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB,两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5%B.10%C.20%D.40%

直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差5DB,材质衰减均为0.004DB/mm,前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%,则后者的底面回波应为满幅度的()A.5%B.10%C.20%D.40%

轴类锻件最主要探测方向是:()A、轴向直探头探伤B、径向直探头探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、斜探头外圆面周向探伤

对饼形锻件采用纵波直探头作径向探测是最佳的检测方法。

在相同增益电平情况下,接触法直探头的空载始波占宽与负载始波占宽()A、两者相同B、前者大于后者C、后者大于前者D、以上都不对

直接制版与直间接制版所述正确的是()A、精密度前者优于后者B、价钱前者高于后者C、耐印力前者优于后者D、直接制版无法控制膜厚

一般来说,同一个组合双晶直探头的近表面分辨率和底面分辨率()A、前者优于后者B、后者优于前者C、前者与后者相同D、两者没有规律

筒形锻件最主要探测方向是:()A、直探头端面和外圆面探伤B、直探头外圆面轴向探伤C、斜探头外圆面轴向探伤D、以上都是

若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A、采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B、转换为横波探伤C、用水做耦合剂D、不加耦合剂

轴类锻件,一般来说用纵波直探头作轴向探测,检测效果最佳。

直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为0.01Db/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%)高,则后者的底面回波应是满幅度的:()A、40%B、20%C、10%D、5%

直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A、5%B、10%C、20%D、40%

饼类锻件最主要探测方向是()A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 斜探头侧面检测

对饼形锻件,采用纵波直探头作径向探测是最佳检测方法

用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的()缺陷,后者有利于检出()缺陷。

直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻外,•若后者探测面毛糙,•与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的100%,则后者的底面回波应为满幅度的()。A、5%B、10%C、20%D、40%

单选题若用直探头反射法探测厚铸件,为降低粗晶草状回波干扰,可采取()A采用低频直探头,分层调整探伤灵敏度B转换为横波探伤C用水做耦合剂D不加耦合剂

单选题直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻外,若后者探测面毛糙,与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的100%,则后者的底面回波应为满幅度的()。A5%B10%C20%D40%

单选题直探头探测厚250mm及500mm两锻件,若后者与前者耦合差4dB,材质衰减均为0.004dB/mm,前者底面回波为满幅度80%时,则后者底面回波应为其()。A5%B10%C20%D40%

单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件,若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB,两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm,当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时,后者的底面回波应为示波屏满幅的()A5%B10%C20%D40%

填空题用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的()缺陷,后者有利于检出()缺陷。

单选题在相同增益电平情况下,接触法直探头的空载始波占宽与负载始波占宽()A两者相同B前者大于后者C后者大于前者D以上都不对

单选题筒形锻件最主要探测方向是:()A直探头端面和外圆面探伤B直探头外圆面轴向探伤C斜探头外圆面轴向探伤D以上都是

单选题饼类锻件最主要探测方向是:()A直探头端面探伤B直探头侧面探伤C斜探头端面探伤D斜探头侧面探伤

单选题轴类锻件最主要探测方向是:()A轴向直探头探伤B径向直探头探伤C斜探头外圆面轴向探伤D斜探头外圆面周向探伤

单选题直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件,若后者探测面粗糙,与前者耦合差为5db,材质衰减均为0.01Db/mm(双程),今将前者底面回波调至满幅(100%)高,则后者的底面回波应是满幅度的:()A40%B20%C10%D5%

单选题一般来说,同一个组合双晶直探头的近表面分辨率和底面分辨率()A前者优于后者B后者优于前者C前者与后者相同D两者没有规律