测量小于1Ω的电阻,要求消除接线电阻和接触电阻造成的误差可采用()。A.惠斯登电桥B.西林电桥C.凯尔文电桥
在相同条件下，用QSl西林电桥测量小电容试品的tgδ和Cx时，用正接线方法和反接线方式测量的结果是完全相同的。( )
现场用QSl西林电桥测量设备的tgδ，当出现较大的电场干扰时，则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下，所测得的tgδ值均比真实值大。( )
QSl型西林电桥反接线时电桥桥体处于高电位。( )
在QSl西林电桥的测量操作中，若分流器挡位设置电流值大于试品实际电流值，则电桥R3的调节值需趋向最高限制，电桥才能趋向平衡。( )
用QSl型西林电桥进行实际测量时，消除磁场干扰的办法有：将电桥移到磁场干扰以外;在检流计极性转换开关处于两种不同位置时，调节电桥平衡，求得每次平衡时的试品tgδ值和电容值，然后再求取两次的平均值，以消除磁场干扰的影响。( )
QSl型西林电桥正接线适用于被试品一端接地的情况。( )
用QS－1型西林电桥反接线测量时,试验电压不能超过()KV,而正接线测量时却()限制。
西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A对B错
采用QS1电桥测量tanδ，正接线比反接线准确度低。A对B错
测量小于1Ω的电阻，要求消除接线电阻和接触电阻造成的误差可采用（）。A、惠斯登电桥B、西林电桥C、凯尔文电桥D、万用电桥
西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。
在相同条件下，用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时，用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。
电桥按测量用途的不同分为（）。A、单臂电桥B、双臂电桥C、精密电桥D、西林电桥
用直流电桥测量电阻时，其测量结果中，（）。A、单臂电桥应考虑接线电阻，而双臂电桥不必考虑；B、双臂电桥应考虑接线电阻，而单臂电桥不必考虑；C、单、双臂电桥均应考虑接线电阻；D、单、双臂电桥均不必考虑接线电阻。
采用QS1电桥测量tanδ，正接线比反接线准确度低。
采用QS1电桥测量tanδ，正接线比反接线准确度（）。A、低B、高C、相等
西林电桥测试tanδ时采用（）时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A、正接线B、反接线C、交叉接线
为什么用QS1型西林电桥测量小电容试品介质损耗因数时，采用正接线好？
在相同条件下，用QSI型西林电桥测量小电容试品的tgδT和C时，用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。
关于双臂电桥测量电阻的结果误差下列叙述错误的是（）。A、与双臂电桥的准确度等级有关。B、和连接线的电阻有关。C、和接触电阻有关。D、误差与温度无关。
测量小于1Ω的电阻，要求消除接线电阻和接触电阻造成的误差可采用（）。A、惠斯登电桥B、西林电桥C、凯尔文电桥D、万用电表
判断题采用QS1电桥测量tanδ，正接线比反接线准确度低。A对B错
单选题西林电桥测试tanδ时采用（）时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A正接线B反接线C交叉接线
判断题西林电桥测试tanδ时采用正接线时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A对B错
单选题采用QS1电桥测量tanδ，正接线比反接线准确度（）。A低B高C相等