千分尺调零位方法:用测力装置使量面或量面与标准棒两端面接触,观察微分筒前端面与固定套管零线、微分筒零线与固定套管基线是否重合,如不重合,应通过附带的专用小扳手转动固定套管来进行调整。() 此题为判断题(对，错)。
测量前,对好“0”位,正确的零位是:当千分尺两测量面接触时,微分筒棱边接触固定套管零刻线,固定套管上的()对准微分筒上零刻线。 A.纵刻线B.零位C.横刻线D.刻线
检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管端面的距离,是为了控制()。检定千分尺微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置,是为了防止()。
检定千分尺微分筒锥面端面棱边上边缘至固定套管纵刻线表面的距离,应至少使微分筒转动一周内不少于三个位置上进行。() 此题为判断题(对，错)。
当零位调整整正确后,微分筒锥面的端面与固定套管横刻线的右边缘应相切,或离线不大于0.1毫米,压线不大于0.05毫米。() 此题为判断题(对，错)。
检定千分尺微分筒锥面端面棱边上边缘至固定套管纵刻线表面的距离，应至少使微分筒转动一周内不少于三个位置上进行。
外径千分尺读数时，应先读固定套管上（），再读微分筒上（）；还应注意0．5毫米刻度线是否出现，如果出现要加（）。
外径千分尺读数时，应先读固定套管上的（），再读微分筒上的（），还应注意刻度线是否出现，如果出现要加（）。
千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面距离应不在于（）。检定应在微分筒转动一周内不少于（）位置上进行。
千分尺的测量下限调整至正确后，微分筒锥面的端面与毫米刻线的相对位置，离线不大于0.1mm或压线不大于（）
千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。
在使用外径千分尺调整零位时，必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合，同时要使微分筒上零线对准固定套管上的（）。A、横刻线B、零线C、纵刻线D、没有关系
当外径千分尺的测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于（），离线不大于（）。
不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置？
检定千分尺刻线宽度及刻线宽度差，要求固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15±0.05mm，刻线宽度差应不大于（）A、0.04mmB、0.05mmC、0.06mm
当零位调整整正确后，微分筒锥面的端面与固定套管横刻线的右边缘应相切，或离线不大于0.1毫米，压线不大于0.05毫米。
检定分尺微分筒锥面的端面至固定套管毫米刻线右边缘的相对位置，是为了防止（）
检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。
填空题千分尺微分筒棱边与固定套筒毫米刻线压线不超过（）mm，离线不超过（）mm。
填空题外径千分尺读数时，应先读固定套管上（），再读微分筒上（）；还应注意0．5毫米刻度线是否出现，如果出现要加（）。
判断题检定千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定。A对B错
填空题千分尺的测量下限调整至正确后，微分筒锥面的端面与毫米刻线的相对位置，离线不大于0.1mm或压线不大于（）
填空题检定分尺微分筒锥面的端面至固定套管毫米刻线右边缘的相对位置，是为了防止（）
判断题当零位调整整正确后，微分筒锥面的端面与固定套管横刻线的右边缘应相切，或离线不大于0.1毫米，压线不大于0.05毫米。A对B错
填空题千分尺微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面距离应不在于（）。检定应在微分筒转动一周内不少于（）位置上进行。
问答题不论哪种千分尺，为什么都要检定微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置？
单选题在使用外径千分尺调整零位时，必须使微分筒上的棱边与固定套管上的“0”线垂合，同时要使微分筒上零线对准固定套管上的（）。A横刻线B零线C纵刻线D没有关系