单选题以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）A当量相同B铸件中的大C锻件中的大D上述都不对
单选题
以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）
A
当量相同
B
铸件中的大
C
锻件中的大
D
上述都不对
参考解析
解析：
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用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则() A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、任意
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方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
以相同的探测灵敏度探测位于粗晶铸件和经过调质锻件中的缺陷，如两者探测面状态一样，同处深度200mm处的缺陷回波高度也一样，则两者的缺陷：（）A、当量相同B、铸件中的大C、锻件中的大D、上述都不对
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷，调节衰减器使其回波降至屏高的50％，前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB，后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则（）。A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、两者大小关系不确定
用2.5MHzφ14mm直探头探测一锻件，200mm处φ2平底孔回波相对波幅为6dB，探伤中在100mm处发现一缺陷回波，波幅为22dB，此缺陷的当量大小为（）。A、1．5mmB、2mmC、2．5mmD、3mm
单选题在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度，去探测一个探测面为圆柱面的试件，发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷，则该缺陷的当量：（）A等于Φ2mm平底孔B比Φ2mm平底孔大C比Φ2mm平底孔小D大于等于Φ2mm平底孔
单选题厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A两个缺陷当量相同B材质衰减大的锻件中缺陷当量小C材质衰减小的锻件中缺陷当量小D以上都不对
单选题斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波，底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在