单选题密封放射源检测是否泄露或被污,通常使用的探测器是()A指形电离室B半导体探测器C中子探测器D闪烁计数器E正比计数器

单选题
密封放射源检测是否泄露或被污,通常使用的探测器是()
A

指形电离室

B

半导体探测器

C

中子探测器

D

闪烁计数器

E

正比计数器


参考解析

解析: 暂无解析

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不适合用于瞬发辐射场的探测器是()。 A、电离室B、闪烁体探测器C、热释光探测器D、计数器型探测器

中子个人剂量监测中常用的方法是A.电离室B.闪烁探测器C.半导体探测器 中子个人剂量监测中常用的方法是A.电离室B.闪烁探测器C.半导体探测器D.CaS02热释光剂量元件E.a径迹(片)

最常用的核辐射探测器有 A、气体探测器B、固体探测器C、液体探测器D、闪烁探测器E、半导体探测器

近距离照射放射源强度校准最好使用()A、指型电离室B、半导体探测器C、井行电离室D、闪烁计数器E、正比计数器

常用场所辐射监测仪中灵敏度最高的是()A、电离室B、正比计数器C、GM计数器D、闪烁探测器E、半导体探测器

高强度辐射场中进行精确剂量测量应使用()A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器

需通过光敏元件成像的探测器是()A、空气电离室B、CCD探测器C、多丝正比电离室D、半导体狭缝扫描仪E、直接转换平板探测器

使用中子探测设备的是()A、波恩球,长计数器B、三氟化硼计数器C、电离室探测器D、盖格计数器E、胶片

灵敏度最低的是()A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器

工业核仪表常用射线探测器有()A、闪烁探测器B、电离室探测器C、盖革计数管

以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器?()A、封闭式正比计数器B、流气式正比计数器C、闪烁计数器D、半导体计数器

正比计数器(流气式或封闭式)、()、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。

属于DR成像直接转换方式的部件是()A、闪烁体+CCD摄像机阵列B、非晶硒平板探测器C、碘化铯+非晶硅探测器D、半导体狭缝线阵探测器E、多丝正比电离室

密封放射检测源是否泄漏或被污染,通常使用的探测器是()A、指型电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器

密封放射源检测是否泄露或被污,通常使用的探测器是()A、指形电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器

以下哪一种探测器,不是利用射线在空气中电离效应原理()A、电离室B、正比计数器C、盖革-弥勒记数管D、闪烁探测器

X荧光仪中探测器通常采用()A、光电倍增管B、闪烁计数器C、正比计数器D、NaCl晶体

X荧光分析中不常使用的探测器是()。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、硅(锂)探测器

在X荧光分析中不常使用的探测器是()。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、半导体探测器

工业核仪表中常用的射线探测器有()。A、闪烁探测器B、霍尔探测器C、光电倍增管D、电离室探测器

工业核仪表常用射线探测器有()A、闪烁探测器B、电离室探测器C、盖革计数管D、烟雾探测器

配伍题中子个人剂量监测中常用的方法是()|在辐射测量中,常用的气体探测器是()A电离室B闪烁探测器C半导体探测器DCaSO4热释光剂量元件Ea径迹(片)

单选题以下哪一种探测器,不是利用射线在空气中电离效应原理()A电离室B正比计数器C盖革-弥勒记数管D闪烁探测器

单选题属于DR成像直接转换方式的部件是()A闪烁体+CCD摄像机阵列B非晶硒平板探测器C碘化铯+非晶硅探测器D半导体狭缝线阵探测器E多丝正比电离室

问答题简要叙述半导体探测器的能量分辨率明显优于正比计数器和闪烁计数器的主要原因。

单选题需通过光敏元件成像的探测器是()A空气电离室BCCD探测器C多丝正比电离室D半导体狭缝扫描仪E直接转换平板探测器

单选题从使用简单、价格低廉,适用范围广的角度来说,首选辐射探测器是()A气体探测器B径迹片C闪烁探测器D半导体探测器E胶片剂量原件