流式细胞仪通常采用的发光源系统为A、荧光B、汞灯C、单色光D、激光E、白光
X射线荧光镀层厚度检测仪每次使用都需要采用20μm的标准片进行校准。
用于能量色失散X荧光光谱仪的（）探测器，须在（）中冷却工作。A、Si（Li）B、Si-PANC、液氮D、液氧
X射线荧光光谱仪探测器的能量分辨率主要是以（）表示。
X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。
用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有：（）A、Si-PIN探测器B、Si（Li）探测器C、硅漂移探测器（SDD）D、正比计数器
X射线荧光光谱仪和光电直读光谱仪一样，都是采用光栅作为分光元件。
能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数
波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束。A、混合B、连续C、单色D、散射
在能量色散X射线荧光光谱仪上，探测器接收到的是（）光束。A、混合B、特征C、连续D、散射
X射线荧光光谱仪采用（）作为分光元件。A、棱镜B、光栅C、晶体D、入射狭缝
X射线荧光仪需要抽真空的部位有（）。A、机壳内部B、样品室C、真空室D、探测器
波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置。A、光子能量B、光波C、电脉冲D、电流
X射线荧光光谱仪流气探测器高压一般为（），闪烁探测器高压一般为（）。
AxiosX荧光光谱仪的闪烁探测器的最大计数率：（）。
X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、硅（锂）探测器
在X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、半导体探测器
X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用（）和（）来接受被测元素特征光谱信号的。
X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A、X射线管B、晶体C、探测器
波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。A、溢出B、漏计C、自吸D、吸收
在扫描型波长色散X射线荧光光谱仪中一般都采用SC和FPC两种探测器探测器。
在渗透行地层上，存在泥饼，使（）α不等于（），必须作校正，通常采用带有（）探测器的补偿密度测井仪。
简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求？