近距离照射放射源强度校准最好使用（）A、指型电离室B、半导体探测器C、井行电离室D、闪烁计数器E、正比计数器
近距离照射放射源强度校准最好使用（）
- A、指型电离室
- B、半导体探测器
- C、井行电离室
- D、闪烁计数器
- E、正比计数器
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对某医院的X线检查仪进行防护检测检测防护区时最好使用何种类型的探测器A、计数管型B、正比计数管型C、电离室型D、指型电离室型E、热释光型检测X线线束输出量时最好用何种探测器A、计数管型B、正比计数管型C、电离室型D、指型电离室型E、闪烁体型
有关半导体剂量仪的叙述，不正确的是（）A、当电离辐射照射半导体探测器时，产生的载流子在电场作用下形成脉冲信号B、根据掺杂情况不同，有N型半导体探测器和P型半导体探测器C、相同体积的半导体探测器，要比空气电离室的灵敏度低，这是在放射治疗中普遍使用电离室的原因D、高原辐射会使半导体探测器晶格发生畸变，导致探头受损，灵敏度下降E、环境温度会影响半导体探测器的灵敏度
在空气中，用指型电离室校准高剂量近距离放射源时，权衡电离室灵敏体积内剂量梯度的变化和测量时间，测量距离一般取（）A、2.0-5.0cmB、5.0-10.0cmC、10.0-20.0cmD、20.0-25.0cmE、25.0-30.0cm
关于电离室空气吸收剂量校准因子ND的描述，错误的是（）A、依赖于电离室的几何形状B、依赖于电离室的制作材料C、与电离室的比释动能校准因子NK有关D、与照射量校准因子NX有关E、与吸收剂量校准因子Cλ，CE有关
以下描述错误的选项是（）。A、近距离照射剂量学最基本的特点之一是放射源周围剂量分布的高梯度变化B、平方反比定律：放射源周围的剂量分布是按照与放射源之间距离的平方而上升C、放射源校准的基本方法是在空气中用电离室方法对放射源进行校准D、巴黎系统的特点是用低强度放射源连续照射E、几何优化针对不同的插值情况的优化可分为距离优化和体积优化两类
单选题需通过光敏元件成像的探测器是（）A空气电离室BCCD探测器C多丝正比电离室D半导体狭缝扫描仪E直接转换平板探测器