正比计数器（流气式或封闭式）、（）、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。

正比计数器（流气式或封闭式）、（）、和半导体计数器是X射线光谱分析中常用的三种探测器。

相关考题：

近距离照射放射源强度校准最好使用（）A、指型电离室B、半导体探测器C、井行电离室D、闪烁计数器E、正比计数器
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常用场所辐射监测仪中灵敏度最高的是（）A、电离室B、正比计数器C、GM计数器D、闪烁探测器E、半导体探测器
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高强度辐射场中进行精确剂量测量应使用（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器
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灵敏度最低的是（）A、电离室B、正比计数器C、闪烁探测器D、半导体探测器E、GM计数器
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以下哪个不是波长色散X射线荧光光谱仪所用的探测器？（）A、封闭式正比计数器B、流气式正比计数器C、闪烁计数器D、半导体计数器
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流气式正比计数器使用的P10气体是（）混合气体。
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正比计数器输出脉冲高度（电压，V）与入射X射线的光子能量成正比。
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波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
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密封放射检测源是否泄漏或被污染，通常使用的探测器是（）A、指型电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器
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密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）A、指形电离室B、半导体探测器C、中子探测器D、闪烁计数器E、正比计数器
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RT所用的射线，下列叙述中正确的是（）A、伽玛射线光谱是连续的，X射线光谱也是连续的B、伽玛射线光谱是不连续的，而X射线光谱是连续的C、伽玛射线光谱是不连续的，X射线光谱也是不连续的D、伽玛射线光谱是连续的，而X射线光谱是不连续的
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波长色散X射线荧光光谱仪的流气正比计数器经长时间使用，其芯线-阳极丝要被污染，造成阳极丝的污染有由气体中的（）和淬灭气体甲烷的（）造成的等两种情况。A、杂质B、还原性C、分解D、碳粒
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能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。A、能量B、波长C、半导体D、计数
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X荧光仪中探测器通常采用（）A、光电倍增管B、闪烁计数器C、正比计数器D、NaCl晶体
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X射线法分析生铁中的锰元素，所用检测器是（）。A、闪烁计数器B、气流式正比计数器C、封闭式正比计数器
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X射线荧光光谱仪流气探测器高压一般为（），闪烁探测器高压一般为（）。
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X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、硅（锂）探测器
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在X荧光分析中不常使用的探测器是（）。A、正比计数器B、闪烁计数器C、晶体计数器D、半导体探测器
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请以流气正比计数器为例说明逃逸峰的产生过程。
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X荧光光谱仪探测器的分辨率R=Q，Q为品质因子，当计数率＜20kcps时，闪烁计数器的Q＜（），充Ar流气正比计数器的Q＜（）。
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常用的X射线正比计数器分为（）和（）两大类，。
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流气正比计数器适用于（）和长波辐射的探测（0.1-8keV）。
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X射线可用下列哪种方式检测？（）A、硒光电池B、光电倍增管C、热电偶D、气体正比计数器
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单选题RT所用的射线，下列叙述中正确的是（）A伽玛射线光谱是连续的，X射线光谱也是连续的B伽玛射线光谱是不连续的，而X射线光谱是连续的C伽玛射线光谱是不连续的，X射线光谱也是不连续的D伽玛射线光谱是连续的，而X射线光谱是不连续的
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单选题密封放射源检测是否泄露或被污，通常使用的探测器是（）A指形电离室B半导体探测器C中子探测器D闪烁计数器E正比计数器
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问答题简要叙述半导体探测器的能量分辨率明显优于正比计数器和闪烁计数器的主要原因。
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单选题利用X射线激发某种物质会产生可见的荧光，而且荧光的多少与X射线强度成正比的特性而制造的计数器为（）A正比计数器B盖革计数器C闪烁计数器D锂漂移硅检测器
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