单选题关于常规FSE序列的扫描时间,正确的是(  )。A扫描时间=(TE×Ny×NEX)/ETLB扫描时间=(TE×TR×NEX)/ETLC扫描时间=(TR×Ny×NEX)/ETLD扫描时间=(TE×TR×Ny)/ETLE扫描时间=TR×Ny×NEX

单选题
关于常规FSE序列的扫描时间,正确的是(  )。
A

扫描时间=(TE×Ny×NEX)/ETL

B

扫描时间=(TE×TR×NEX)/ETL

C

扫描时间=(TR×Ny×NEX)/ETL

D

扫描时间=(TE×TR×Ny)/ETL

E

扫描时间=TR×Ny×NEX


参考解析

解析:
常规FSE序列的扫描时间:扫描时间=(TR×Ny×NEX)/ETL。式中:TR为重复时间;Ny为相位编码步级数;NEX为信号平均次数;ETL为回波链长度。

相关考题:

造成卷褶伪影主要是因为A.视场的范围超出被检物体B.被检物体超出视场的范围C.TR过大D.TE过大E.扫描时间过长

关于常规SE序列的扫描时间,正确的是A、扫描时间=TE×NY×NEXB、扫描时间=TR×NY×NEXC、扫描时间=TE×TR×NEXD、扫描时间=TE×TR×NYE、扫描时间=(TR×NY×NEX)/ETL

造成卷摺伪影主要是因为:()。A.视场的范围超出被检查的揭破部位。B.被检查的揭破部位超出视场的范围。C.TR过大。D.TE过大。E.扫描时间过长。

造成卷摺伪影主要是因为()A、视场的范围超出被检查的揭破部位。B、被检查的揭破部位超出视场的范围。C、TR过大。D、TE过大。E、扫描时间过长。

SE序列T1加权扫描时,如果缩短TE值,正确的变化是()A、图像对比度提高,扫描时间减少B、图像对比度不变,扫描时间不变C、图像对比度下降,扫描时间增加D、图像对比度提高,扫描时间增加E、图像对比度提高,扫描时间不变

"常规SE序列质子加权"的扫描参数为以下哪项()A、TR≥60ms,TE≤1500msB、TR≥600ms,TE≤2000msC、TR≥80ms,TE≥2000msD、TR≥2000ms,TE≤50msE、TR≤100ms,TE≤1500ms

造成卷折伪影主要是因为()A、视场的范围超出被检物体B、被检物体超出视场的范围C、TR过大D、TE过大E、扫描时间过长

在FSE序列中,下列叙述正确的是()A、回波链越长,扫描时间越长B、回波链越短,扫描时间越短C、回波链越短,扫描时间越长D、回波链越长,扫描时间越短E、扫描时间长短与回波链无关

卷褶伪影产生的主要是原因是()A、被检查的解剖部位超出了视场范围B、TR过大C、视场的范围超出被检查的解剖部位D、TE过大E、扫描时间过长

单选题关于常规SE序列的扫描时间,正确的是(  )。A扫描时间=TE×Ny×NEXB扫描时间=TR×Ny×NEXC扫描时间=TE×TR×NEXD扫描时间=TE×TR×NyE扫描时间=(TR×Ny×NEX)/ETL

单选题关于回波链的描述,错误的是(  )。A每次TE周期的回波数为回波链长B主要用于FSE及IR序列C回波链越长,扫描时间越短D回波链越长,信噪比越低E一个TR周期内,由多次180°脉冲组成回波链

单选题SE序列T1加权扫描时,如果缩短TE值,正确的变化是(  )。A图像对比度提高,扫描时间减少B图像对比度不变,扫描时间不变C图像对比度下降,扫描时间增加D图像对比度提高,扫描时间增加E图像对比度提高,扫描时间不变

单选题在FSE序列中,下列叙述正确的是()A回波链越长,扫描时间越长B回波链越短,扫描时间越短C回波链越短,扫描时间越长D回波链越长,扫描时间越短E扫描时间长短与回波链无关