造成卷摺伪影主要是因为（）A、视场的范围超出被检查的揭破部位。B、被检查的揭破部位超出视场的范围。C、TR过大。D、TE过大。E、扫描时间过长。
造成卷摺伪影主要是因为（）
- A、视场的范围超出被检查的揭破部位。
- B、被检查的揭破部位超出视场的范围。
- C、TR过大。
- D、TE过大。
- E、扫描时间过长。
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关于卷褶伪影的说法，正确的是A、卷褶伪影是由于FOV过大造成的B、卷褶伪影在2D采集中经常出现，在3D采集中不会出现C、卷褶伪影出现在频率编码方向D、卷褶伪影出现在相位编码方向E、卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上，也可以出现在频率编码方向上
多选题关于卷褶伪影的叙述，正确的是（）A卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致B卷褶伪影主要发生在频率编码方向上C变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影D施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影E增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率
单选题主要出现在频率编码方向的图像伪影是（）A运动伪影B磁敏感伪影C截断伪影D卷褶伪影E化学位移伪影