关于常规SE序列的扫描时间，正确的是A、扫描时间=TE×NY×NEXB、扫描时间=TR×NY×NEXC、扫描时间=TE×TR×NEXD、扫描时间=TE×TR×NYE、扫描时间=(TR×NY×NEX)/ETL

关于常规SE序列的扫描时间，正确的是

A、扫描时间=TE×NY×NEX

B、扫描时间=TR×NY×NEX

C、扫描时间=TE×TR×NEX

D、扫描时间=TE×TR×NY

E、扫描时间=(TR×NY×NEX)/ETL

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造成卷褶伪影主要是因为A.视场的范围超出被检物体B.被检物体超出视场的范围C.TR过大D.TE过大E.扫描时间过长
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在FSE序列中,下列叙述正确的是( ) A.回波链越长，扫描时间越长B.回波链越短，扫描时间越短C.回波链越短，扫描时间越长D.回波链越长，扫描时间越短E.扫描时间长短与回波链无关
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造成卷摺伪影主要是因为：()。A.视场的范围超出被检查的揭破部位。B.被检查的揭破部位超出视场的范围。C.TR过大。D.TE过大。E.扫描时间过长。
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下列SE序列的扫描参数，符合质子加权成像的是：()。A、TR2500ms，TE100ms。B、TR400ms，TE100ms。C、TR400ms，TE15ms。D、TR1000ms，TE75ms。E、TR2500ms，TE15ms。
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造成卷折伪影主要是因为 A、视场的范围超出被检物体B、被检物体超出视场的范围C、TR过大D、TE过大E、扫描时间过长
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“常规SE序列质子加权”的扫描参数为以下哪项A．TR≥60ms，TE≤1500msB．TR≥600ms，TE≤2000msC．TR≥80ms，TE≥2000msD．TR≥2000ms，TE≤50msE．TR≤100ms，TE≤1500ms
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卷褶伪影产生的主要是原因是 ( ) A、被检查的解剖部位超出了视场范围B、TR过大C、视场的范围超出被检查的解剖部位D、TE过大E、扫描时间过长
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“常规SE序列质子加权”的扫描参数为以下哪项A.TR≥60ms，TE≤1 500msB.TR≥600ms，TE≤2 000msC.TR≥80ms，TE≥2 000msD.TR≥2 000ms，TE≤50msE.TR≤10Oms，TE≤1 500ms
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除SE序列外，其他磁共振序列的扫描时间还与 有关。
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