造成卷折伪影主要是因为（）A、视场的范围超出被检物体B、被检物体超出视场的范围C、TR过大D、TE过大E、扫描时间过长

造成卷折伪影主要是因为（）

  • A、视场的范围超出被检物体
  • B、被检物体超出视场的范围
  • C、TR过大
  • D、TE过大
  • E、扫描时间过长

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造成卷褶伪影主要是因为A.视场的范围超出被检物体B.被检物体超出视场的范围C.TR过大D.TE过大E.扫描时间过长
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关于卷褶伪影的说法，正确的是A、卷褶伪影是由于FOV过大造成的B、卷褶伪影在2D采集中经常出现，在3D采集中不会出现C、卷褶伪影出现在频率编码方向D、卷褶伪影出现在相位编码方向E、卷褶伪影既可以出现在相位编码方向上，也可以出现在频率编码方向上
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主要出现在频率编码方向的图像伪影是()。A、运动伪影B、磁敏感伪影C、截断伪影D、卷褶伪影E、化学位移伪影
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造成卷摺伪影主要是因为：()。A.视场的范围超出被检查的揭破部位。B.被检查的揭破部位超出视场的范围。C.TR过大。D.TE过大。E.扫描时间过长。
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MRI设备伪影主要有A.化学位移伪影B.卷褶伪影C.截断伪影D.部分容积效应E.层间干忧
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蒙片与造影片配准不良，会产生A.金属伪影B.容积效应C.卷折伪影D.雪花噪声E.运动性伪影
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造成卷摺伪影主要是因为（）A、视场的范围超出被检查的揭破部位。B、被检查的揭破部位超出视场的范围。C、TR过大。D、TE过大。E、扫描时间过长。
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造成卷折伪影主要是因为（）A、视场的范围超出被检物体B、被检物体超出视场的范围C、TR过大D、TE过大E、扫描时间过长
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造成卷褶伪影主要是因为（）A、视场的范围超出被检物体B、被检物体超出视场的范围C、TR过大D、TE过大E、扫描时间过长
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蒙片与造影片配准不良，会产生（）A、雪花噪声B、运动性伪影C、卷折伪影D、容积效应E、金属伪影
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金属产生的伪影称（）A、运动伪影B、卷褶伪影C、化学位移伪影D、磁敏感性伪影E、截断伪影
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不属于磁共振伪影的是（）A、化学位移伪影B、运动伪影C、卷褶伪影D、截断伪影E、放射状伪影
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多选题关于卷褶伪影的叙述，正确的是（）A卷褶伪影是由于FOV小于受检部位所致B卷褶伪影主要发生在频率编码方向上C变换频率编码和相位编码方向可消除卷褶伪影D施加空间预饱和带可抑制卷褶伪影E增大FOV可增加卷褶伪影出现的频率
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单选题造成卷褶伪影主要是因为（）A视场的范围超出被检物体B被检物体超出视场的范围CTR过大DTE过大E扫描时间过长
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单选题蒙片与造影片配准不良，会产生（）A雪花噪声B运动性伪影C卷折伪影D容积效应E金属伪影
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单选题造成卷折伪影主要是因为（）A视场的范围超出被检物体B被检物体超出视场的范围CTR过大DTE过大E扫描时间过长
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单选题主要出现在频率编码方向的图像伪影是（）A运动伪影B磁敏感伪影C截断伪影D卷褶伪影E化学位移伪影
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单选题造成卷折伪影主要原因是（　　）。ATE过大B视场的范围超出被检物体CTR过大D被检物体超出视场的范围E扫描时间过长
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