单选题使用K型扫查阵列式探头探测焊缝,增加发收晶片数量主要是为了提高()。A探伤灵敏度B扫查密度C定位精度D定量精度

单选题
使用K型扫查阵列式探头探测焊缝,增加发收晶片数量主要是为了提高()。
A

探伤灵敏度

B

扫查密度

C

定位精度

D

定量精度


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

现场焊接的焊缝全断面探伤要用到()A、K2.5B、K1C、直探头D、串列式扫查架

可以将实时超声仪器的探头归类为A、环阵、扇形扫查、线阵换能器B、仅为扇形换能器C、扇形、线阵、环阵、凸阵换能器D、静态换能器E、单晶片换能器

主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。A、 交叉式B、 V型串列式C、 K型串列式D、 串列式

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷

使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。

用于现场焊缝的扫查装置应能对轨头和轨底两部位进行()扫查,能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。

焊缝探伤时,斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、()、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。

当用双探头法探测铝热焊缝时如何进行扫查?

使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的()。

以下哪种探测方法不适宜T型焊缝()。A、直探头在翼板上扫查探测B、斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C、直探头在腹板上扫查探测D、斜探头在腹板上扫查探测

对有加强高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时,应()。A、保持灵敏度不变B、适当提高灵敏度C、增加大K值探头探测D、以上B和C

钢轨焊缝用的扫查装置,当使用阵列式组合探头对钢轨焊缝进行分段扫查时,扫查间隔应不大于()。A、15mmB、20mmC、25mmD、30mm

焊缝探伤扫查轨脚五区时,K2.5探头向外偏10°纵向移动进行扫查。

TB/T2658.21—2007规定,对钢轨焊缝轨底部位用双探头K型扫查时,灵敏度如何校准?

在役焊缝双探头法宜用()探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。A、K1B、K2C、K3D、K0.8~K1

使用K型扫查阵列式探头探测焊缝,增加发收晶片数量主要是为了提高()。A、探伤灵敏度B、扫查密度C、定位精度D、定量精度

单选题主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是()。A 交叉式B V型串列式C K型串列式D 串列式

单选题对有余高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时,应()A保持灵敏度不变B适当提高灵敏度C增加大K值探头探测D以上B和C

单选题对有加强高的焊缝作斜平行扫查探测焊缝横向缺陷时,应()。A保持灵敏度不变B适当提高灵敏度C增加大K值探头探测D以上B和C

问答题当用双探头法探测铝热焊缝时如何进行扫查?

单选题以下哪种探测方法不适宜T型焊缝()。A直探头在翼板上扫查探测B斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C直探头在腹板上扫查探测D斜探头在腹板上扫查探测

填空题焊缝探伤时,斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、()、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。

填空题用于现场焊缝的扫查装置应能对轨头和轨底两部位进行()扫查,能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。

单选题在役焊缝双探头法宜用()探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。AK1BK2CK3DK0.8~K1

单选题焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A平行于探测面的缺陷B与探测面倾斜的缺陷C垂直于探测面的缺陷D不能用斜探头检测的缺陷

判断题使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。A对B错

填空题使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的()。