现场焊接的焊缝全断面探伤要用到()A、K2.5B、K1C、直探头D、串列式扫查架
可以将实时超声仪器的探头归类为A、环阵、扇形扫查、线阵换能器B、仅为扇形换能器C、扇形、线阵、环阵、凸阵换能器D、静态换能器E、单晶片换能器
下列探头中哪种是单晶片探头（）A、电子线阵探头B、电子凸阵探头C、机械扇扫探头D、电子相控阵探头E、连续多普勒探头
使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。
用于现场焊缝的扫查装置应能对轨头和轨底两部位进行（）扫查，能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。
新焊焊缝单探头法，宜用（）横波探头从轨底斜面上对轨底部位进行扫查。A、K≥1B、K0.8～K1C、K≥2D、K≥3
焊缝探伤时，斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、（）、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。
TB/T2658.21—2007标准规定，焊缝轨腰部位双探头探伤时，K型扫查其灵敏度如何校准？
钢轨焊缝用的扫查装置，当使用阵列式组合探头对钢轨焊缝进行分段扫查时，扫查间隔应不大于（）。A、15mmB、20mmC、25mmD、30mm
焊缝探伤扫查轨脚五区时，K2.5探头向外偏10°纵向移动进行扫查。
偏角扫查方式是使用单斜探头横波检测焊缝的基本扫查方法之一。
TB/T2658.21—2007规定，对钢轨焊缝轨底部位用双探头K型扫查时，灵敏度如何校准？
在役焊缝双探头法宜用（）探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。A、K1B、K2C、K3D、K0.8～K1
使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A、探伤灵敏度B、扫查密度C、定位精度D、定量精度
单选题可以将实时超声仪器的探头归类为A环阵、扇形扫查、线阵换能器B仅为扇形换能器C扇形、线阵、环阵、凸阵换能器D静态换能器E单晶片换能器
判断题偏角扫查方式是使用单斜探头横波检测焊缝的基本扫查方法之一。A对B错
填空题焊缝探伤时，斜探头的基本扫查方式有锯齿形扫查、左右扫查、（）、转角扫查、环绕扫查、平行斜平行扫查及交叉扫查、串列式扫查等。
单选题使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A探伤灵敏度B扫查密度C定位精度D定量精度
填空题用于现场焊缝的扫查装置应能对轨头和轨底两部位进行（）扫查，能对轨腰部位进行K型扫查或串列式扫查。
单选题下列探头中哪种是单晶片探头（）A电子线阵探头B电子凸阵探头C机械扇扫探头D电子相控阵探头
问答题TB/T2658.21—2007规定，对钢轨焊缝轨底部位用双探头K型扫查时，灵敏度如何校准？
判断题焊缝探伤扫查轨脚五区时，K2.5探头向外偏15°纵向移动进行扫查。A对B错
单选题在役焊缝双探头法宜用（）探头从轨头踏面对轨腰进行串列式扫查。AK1BK2CK3DK0.8～K1
判断题使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。A对B错
填空题使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的（）。