焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷B.与探测面倾斜的缺陷C.垂直于探测面的缺陷D.不能用斜探头检测的缺陷
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法
厚钢板内部与探测面呈45°倾斜的平滑片状缺陷，最有效的探伤方法是（）A、单探头纵波法B、单探头横波法C、双斜探头前后串列法
用串联式探头进行操作扫查，主要用来检测（）的缺陷。A、平行于探测面B、与探测面倾斜C、垂直于探测面
接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头
直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。
直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、呈90°
直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。
斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。
斜探头主要用于探测与探测面垂直或成一定角度的缺陷。
单探头法探测与波束轴线（）缺陷最易发现。A、平行的B、垂直的C、倾斜的
斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、一致
单选题主要用来发现与探测面平行的片状缺陷的双探头法是（）。A 交叉式B V型串列式C K型串列式D 串列式
判断题直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。A对B错
单选题接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头
单选题厚钢板内部与探测面呈45°倾斜的平滑片状缺陷，最有效的探伤方法是（）A单探头纵波法B单探头横波法C双斜探头前后串列法
单选题单探头法探测与波束轴线（）缺陷最易发现。A平行的B垂直的C倾斜的
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A平行且靠近探测面B与声束方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面
单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A单斜探头法B单直探头法C双斜探头前后串列法D分割式双直探头法
单选题直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。A平行B垂直C倾斜D呈90°
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A平行于探测面的缺陷B与探测面倾斜的缺陷C垂直于探测面的缺陷D不能用斜探头检测的缺陷
单选题分割式探头主要用来（）。A探测离探伤面远的缺陷B探测离探伤面近的缺陷C探测与探伤面平行的缺陷
判断题纵波直探头法主要用于检测与检测面平行的缺陷。A对B错
单选题斜探头主要用于探测与探测面（）或成一定角度的缺陷。A平行B垂直C倾斜D一致