填空题采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。

填空题
采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。

参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

钢板对接立焊时,为减少和防止熔化金属下淌,应选用的焊条直径和焊接电流的组合为()。 A、直径较大,电流较小B、直径较大,电流较大C、直径较小,电流较小D、直径较小,电流较大

加工端面或直径变化较大的工件时,若数控车床的主轴可伺服(即能无级变速),通常采用恒转速车削。

波束扩散角是晶片尺寸和传播介质中声波波长的函数并且随()A、频率增加,晶片直径减小而减小B、频率或晶片直径减小而增大C、频率或晶片直径减小而减小D、频率增加,晶片直径减小而增大

切断直径较大的工件时,为了减少震动,有利于排屑,可采用()法。

用三爪自定心卡盘夹持工件直径较大时,应采用()夹持,加工精度要求较高的工件时,要注意()。

减小探头盲区的方法主要是采用直径小的晶片制作探头。

探头指向角是晶片尺寸和介质中波长的函数。它随()。A、频率增加、晶片直径减小而减小B、频率或直径减小而增大C、频率或直径减小而增大D、频率增加、晶片直径减小而增大

聚焦探头的焦点尺寸与晶片直径、波长和焦距有关,晶片直径(),波长(),焦距(),则焦点小。

波束扩散角是晶片尺寸和所通过的介质中声波波长的函数,并且()A、频率或晶片直径减少时增大B、频率或晶片直径减少时减少C、频率增加而晶片直径减少时减少

检测小型工件时,为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。

采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。

接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。

接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。

波束扩散角是晶片尺寸和所通过的介质中声波波长的函数,并且()。A、频率或晶片直径减少时增大B、频率或晶片直径减少时减少C、频率增加而晶片直径减少时减少D、频率或晶片直径增大时增大

在超声波探伤中,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径()的探头。

采用接触法超探,探测距离大时,为获得较集中的能量,应选用()直径的晶片。

探测表面不太平整,曲率较大的工件时,为减少(),宜选用()探头。

超声波探伤,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径较小的探头。

判断题加工端面或直径变化较大的工件时,若数控车床的主轴可伺服(即能无级变速),通常采用恒转速车削。A对B错

单选题波束扩散角是晶片尺寸和所通过的介质中声波波长的函数,并且()A频率或晶片直径减少时增大B频率或晶片直径减少时减少C频率增加而晶片直径减少时减少

单选题波束扩散角是晶片尺寸和传播介质中声波波长的函数并且随()A频率增加,晶片直径减小而减小B频率或晶片直径减小而增大C频率或晶片直径减小而减小D频率增加,晶片直径减小而增大

填空题接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。

填空题聚焦探头的焦点尺寸与晶片直径、波长和焦距有关,晶片直径(),波长(),焦距(),则焦点小。

单选题波束扩散角是晶片尺寸和所通过的介质中声波波长的函数,并且()。A频率或晶片直径减少时增大B频率或晶片直径减少时减少C频率增加而晶片直径减少时减少D频率或晶片直径增大时增大

填空题采用接触法超探,探测距离大时,为获得较集中的能量,应选用()直径的晶片。

填空题在超声波探伤中,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径()的探头。

填空题接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。