晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()A.垂直法B.斜射法C.表面波法D.K型扫查
探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。（）此题为判断题(对，错)。
超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是()。 A、润滑接触面，尽量减少探头的磨损;B、排除探头与探测面间的空气;C、晶片与探测面直接接触时就不会产生振动;D、使探头可靠地接触;
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法是() A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法
晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为（）A、直射法B、斜射法C、表面波法D、上述三种都不对
晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（）A、垂直法B、斜射法C、表面波法
单晶片探头接触法探伤中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为盲区。
在进行超声波探伤时，探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。
探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。
接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。
接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。
超声波探伤时施加耦合剂的主要目的是：（）A、润滑接触面尽量减少探头磨损B、排除探头与探测面间的空气C、晶片与探测面直接接触时就不会振动D、使探头可靠地接地
晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法叫做（）。
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法
只用一个晶片兼作发射和接收超声波的探伤方法称单探头法探伤。
液浸法探伤，由于探头与试件不接触，超声波的发射和接收都比较稳定。
超声波探伤时施加耦合剂的主要原因是（）。A、润滑接触面，尽量减小探头的磨损B、排除探头与探测面间的空气C、晶片与探测面接触时就不会产生振动D、使探头可靠的接触
判断题探头晶片与缺陷表面不平行的超声波探伤法，称为斜射法。A对B错
填空题接触法超声波探伤，探测距离较大时，为获得较为集中的能量，应选用（）直径晶片的探头。
单选题晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入探测材料的检验方法称为（）A直射法B斜射法C表面波法D上述三种都不对
单选题晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为（）A垂直法B斜射法C表面波法
判断题只用一个晶片兼作发射和接收超声波的探伤方法称单探头法探伤。A对B错
判断题液浸法探伤，由于探头与试件不接触，超声波的发射和接收都比较稳定。A对B错
单选题超声波探伤时施加耦合剂的主要目的是：（）A润滑接触面尽量减少探头磨损B排除探头与探测面间的空气C晶片与探测面直接接触时就不会振动D使探头可靠地接地
填空题晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法叫做（）。
单选题分割式探头主要用来（）。A探测离探伤面远的缺陷B探测离探伤面近的缺陷C探测与探伤面平行的缺陷