问答题为什么说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性?

问答题
为什么说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性?

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X射线荧光光谱仪可测出样品中的:().A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量

常用哪些大型仪器来测定宝石矿物包裹体的主要成分:()A、红外光谱      B、拉曼光谱      C、X-射线荧光仪  D、电子探针

测定宝石的化学成分可选择下列的什么方法:()A、X-射线衍射    B、X-荧光能谱分析  C、红外光谱    D、化学分析

X射线光管产生的特征光谱波长由()元素决定。

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。A、增大B、减小C、不变D、无变化

X射线荧光光谱分析中,对于不同元素的同名谱线,随着原子序数的增加,波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点,主要是由各种元素的化学成分决定的。

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

手持式X射线荧光光谱仪的镀层模式,是检测镀层元素含量的。

X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。A、不连续B、连续C、散射D、相对

X射线荧光光谱分析中,各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长,随原子序数的大小而变化,与管电压和管电流的大小也有关。

X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时,原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。

X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。

波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

X射线荧光光谱法是对元素的()进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱

X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用()和()来接受被测元素特征光谱信号的。

X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是()。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线

X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是()。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱

X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。

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