光谱分析中的干扰主要包括()干扰,谱线重叠干扰及空白干扰。
用ICP-AES法测定时，背景扣除法是凭经验确定扣除背景的位置及方式。
ICP-AES法测定水中多元素时，消除（）最简单的方法是将样品稀释。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰
电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。
ICP法进行样品测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰
原子吸收干扰中的光谱干扰分（）和背景干扰。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰D、谱线干扰
在原子吸收法中，原子化器的分子吸收属于（）。A、光谱线重叠的干扰B、化学干扰C、背景干扰D、物理干扰
ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰
ICP-AES法测定水中多元素时，消除最简单的方法是将样品稀释。（）A、物理干扰B、化学干扰C、电离子干扰
用ICP－AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。
用ICP－AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与干扰元素浓度的比值。
用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数与光谱仪的分辩能力无关，可直接使用文献中的干扰系数。
ICP-AES分析中，产生连续背景的因素有（）、（）、（）和（）4种。
ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰
用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数与光谱仪的分辨能力无关，可直接使用文献资料中的干扰系数。
ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。
判断题用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数与光谱仪的分辨能力无关，可直接使用文献资料中的干扰系数。A对B错
单选题在原子吸收法中，原子化器的分子吸收属于（）。A光谱线重叠的干扰B化学干扰C背景干扰D物理干扰
单选题ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A光谱干扰B化学干扰C电离干扰
判断题用ICP-AES法测定时，背景扣除法是凭经验确定扣除背景的位置及方式。A对B错
单选题ICP法进行样品测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A光谱干扰B化学干扰C电离干扰
填空题ICP-AES分析中，产生连续背景的因素有（）、（）、（）和（）4种。
单选题ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除（）。A物理干扰B化学干扰C电离干扰
判断题ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。A对B错
单选题ICP-AES法测定水中多元素时，消除（）最简单的方法是将样品稀释。A物理干扰B化学干扰C电离干扰
判断题电感耦合等离子体原子发射光谱法的光谱干扰是指连续背景干扰和谱线重叠干扰。A对B错