ICP-AES法测定水中多元素时，消除（）最简单的方法是将样品稀释。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰
在原子吸收光谱分析中，加入消电离剂可以抑制电离干扰。一般来说，消电离剂的电离电位：（）A、比待测元素高B、比待测元素低C、与待测元素相近D、与待测元素相同
用ICP－AES法测定水中金属元素时，配制分析用的单元素标准贮备液和中间标准溶液的酸度应保持在0.1mol/L以上。
ICP-AES法测定水中溶解态元素时，如何进行样品预处理？
原子吸收光谱法测定试样中的钾元素含量，通常需加入适量的钠盐，这里钠盐被称为（）A、释放剂B、缓冲剂C、消电离剂D、保护剂
用ICP－AES法测定水中金属元素时，测定之前如果对试样进行了富集或稀释，应将测定结果除以或乘以一个相应的倍数。
ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰
用ICP-AES法测定水中金属元素时，化学富集分离法用于校正元素间干扰，效果明显并可提高元素的检出能力，但操作手续繁冗，且易引入试剂空白。
ICP-AES法测定水中金属元素时，混合标准溶液的酸度不必与待测样品溶液的酸度一致。
ICP-AES法测定水中多元素时，消除最简单的方法是将样品稀释。（）A、物理干扰B、化学干扰C、电离子干扰
ICP-AES法测定水样中元素的含量时，为减少空白值应在测定过程中尽量使用（）盐酸和硝酸。A、化学纯B、优级纯C、分析纯
用ICP-AES法测定水中金属元素，目前常用的、比较简便的校正元素间干扰的方法是（）、或（）。
用ICP－AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。
用ICP－AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与干扰元素浓度的比值。
配制ICP-AES法测定所用的多元素混合标准溶液时，应考虑哪些因素？
某些易电离的元素在火焰中易发生电离而产生电离干扰，使参与原子吸收的基态原子数减少，从而引起原子吸收信号的降低。为了消除电离干扰，我们一般采用下列哪种方法（）。A、扣除背景B、使用高温火焰C、加入释放剂、保护剂和缓冲剂D、加入比待测元素更易电离的元素来抑制待测元素的电离
当待测元素的分析线与共存元素的吸收线相互重叠，不能分开时，可采用的办法是（）。A、扣除背景B、加入消电离剂C、采用其它分析线D、采用稀释法或标准加入法来排除干扰
用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与于扰元素浓度的比值。
填空题用ICP-AES法测定水中金属元素，目前常用的、比较简便的校正元素间干扰的方法是（）或（）。
判断题用ICP-AES法测定水中金属元素时，测定之前如果对试样进行了富集或稀释，应将测定结果除以或乘以一个相应的倍数。A对B错
判断题用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与于扰元素浓度的比值。A对B错
单选题当待测元素的分析线与共存元素的吸收线相互重叠，不能分开时，可采用的办法是（）。A扣除背景B加入消电离剂C采用其它分析线D采用稀释法或标准加入法来排除干扰
判断题用ICP-AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。A对B错
判断题用ICP-AES法测定水中金属元素时，配制分析用的单元素标准贮备液和中间标准溶液的酸度应保持在0．1mol／L以上。A对B错
问答题配制ICP-AES法测定所用的多元素混合标准溶液时，应考虑哪些因素？
单选题ICP-AES法测定水中多元素时，消除（）最简单的方法是将样品稀释。A物理干扰B化学干扰C电离干扰
判断题用ICP-AES法测定水中金属元素时，化学富集分离法用于校正元素间干扰，效果明显并可提高元素的检出能力，但操作手续繁冗，且易引入试剂空白。A对B错