用ICP-AES法测定时，背景扣除法是凭经验确定扣除背景的位置及方式。
影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）和（）。
影响ICP－AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）、（）。
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线
X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱
光度法和ICP－AES分析钢中硅，分解试样时应注意采用稀酸并低温加热。
ICP-AES法测定水样中元素的含量时，为减少空白值应在测定过程中尽量使用（）盐酸和硝酸。A、化学纯B、优级纯C、分析纯
试样ICP-AES测定时，采用标准曲线法定量分析的原理。
用ICP－AES法测定水中金属元素时，分析过程中沾污造成的空白值，可作为干扰进行校正。
ICP—AES分析中，产生连续背景的因素有（）、（）、（）和（）4种。
ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离子干扰
原子吸收光谱分析法中，背景干扰是怎样产生的？如何抑制和校正光谱背景？简述用氘灯校正背景吸收的原理。
分析新闻作品为什么要了解和把握新闻作品产生的时代背景？
ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰
ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。
单选题ICP-AES法测定时，连续背景和谱线重叠干扰属于（）。A光谱干扰B化学干扰C电离干扰
填空题影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个，即（）、（）和（）。
判断题用ICP-AES法测定时，背景扣除法是凭经验确定扣除背景的位置及方式。A对B错
填空题ICP-AES分析中，产生连续背景的因素有（）、（）、（）和（）4种。
问答题原子吸收光谱分析法中，背景干扰是怎样产生的？如何抑制和校正光谱背景？简述用氘灯校正背景吸收的原理。
判断题ICP-AES法分析中，如存在连续背景干扰，必须要扣除光谱背景，否则标准曲线不通过原点。A对B错
问答题ICP-AES法分析中灵敏度漂移应如何校正？
问答题根据背景和列表，画出针对产生焊接气孔缺陷原因分析的排列图。分析焊接中产生气孔的主要原因。