用底面反射的方法校准探测灵敏度时,底面所在的部位可以是任意的。()

用底面反射的方法校准探测灵敏度时,底面所在的部位可以是任意的。()


相关考题:

超声波探伤中,没有探测盲区的探伤方法是( )。A、反射法B、穿透法C、底面多次回波法D、底面一次回波反射法法

当底面粗糙有水、油或当大平底底面与探测面不平行时,将使底面反射率降低,底波高度下降,这样调节的灵敏度会()。A.不变B.降低C.提高D.变化不确定

用底面反射的方法校准探测灵敏度时,底面所在的部位可以是任意的。() 此题为判断题(对,错)。

验算地基承载力时,下列符合基础底面的压力性质的是( )。A.基础底面压力可以是均匀分布的压力B.基础底面压力可以是梯形分布的压力C.基础底面压力是总压力D.基础底面压力是附加压力

验算地基承载力时,下列哪些选项是符合基础底面的压力性质的?( )A.基础底面的压力可以是均匀分布的压力B.基础底面的压力可以是梯形分布的压力C.基础底面的压力可以是总压力D.基础底面的压力可以是附加压力

对于300mm厚的实心钢锻件,要求探伤灵敏度为Ø2,平底孔当量超声波频率为2.5MHz,若用底面回波反射法调节探伤灵敏度,当底面反射回波达到基准高度后,应提高多少的增益量()A、36dBB、38dBC、41dBD、45dB

斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波,底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在

采用大平底反射波探测锻件时,一定注意底面的()

用底波法校准灵敏度时,如底面粗糙或粘有水迹,将会使底波降低,这样利用底波校准的灵敏度将会降低,缺陷定量将会偏小。

用试件底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在部位应平整()。A、无缺陷B、有规则的缺陷C、有小缺陷D、以上均不是

在探测工件侧壁附近的缺陷时,由于存在着(),所以探伤灵敏度会明显偏低。A、侧壁干扰B、61°角反射波C、工件底面不平D、以上都对

在一定灵敏度下探测材料时,材质衰减越大则底面回波()

TB/T2658.21-2007规定,探伤仪动态范围测量,连接探头并在试块上探测()反射波作为参照波.A、厚度25mm底面B、厚度50mm底面C、厚度100mm底面D、任一底面

当底面粗糙有水、油或当大平底底面与探测面不平行时,将使底面反射率降低,底波高度下降,这样调节的灵敏度将会()。A、不变B、偏低C、偏高D、任意

斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波

用2.5P20Z直探头探测厚400mm的钢试件,探测要求为直径φ4mm当量平底孔直径,试用底面法调整探伤灵敏度。(CL=5900m/s)

用底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在的部位可以是任意的。

用试块的方法校准探测灵敏度时,为了避免修正,应采用实物对比试块。

单选题斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波时底面回波消失D有大型缺陷回波时有底面回波

判断题用试块的方法校准探测灵敏度时,为了避免修正,应采用实物对比试块。A对B错

单选题超声波探伤中,没有探测盲区的探伤方法是()A反射法B穿透法C底面多次回波法D底面一次回波反射法法

单选题探测距离均为100mm的底面,用同样规格直探头以相同灵敏度探测时,下列哪种底面回波最高、()A与探测面平行的大平底面BR200的凹圆柱底面CR200的凹球底面DR200的凸圆柱底面

判断题用底波法校准灵敏度时,如底面粗糙或粘有水迹,将会使底波降低,这样利用底波校准的灵敏度将会降低,缺陷定量将会偏小。A对B错

单选题当底面粗糙有水、油或当大平底底面与探测面不平行时,将使底面反射率降低,底波高度下降,这样调节的灵敏度将会()。A不变B偏低C偏高D任意

判断题用底面的方法校准探测灵敏度时,底面所在的部位可以是任意的。A对B错

填空题采用大平底反射波探测锻件时,一定注意底面的()

单选题斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波,底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在