在一定灵敏度下探测材料时，材质衰减越大则底面回波（）
在一定灵敏度下探测材料时，材质衰减越大则底面回波（）
相关考题：
有一钢工件厚200mm,已知第五次底面回波与第二次底面回波相差9.5dB,材质的衰减系数()。A.0.013dB/mmB.0.0013dB/mmC.0.00013dB/mmD.0.13dB/mm
直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为0、004dB/mm，前者底面回波为满幅度的80%时，则后者底面回波应( )。A、5%B、10%C、20%D、40%
用垂直法以相同探测灵敏度探测同一试件同深度上的两个缺陷,调节衰减器使其回波降至屏高的50%,前一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是10dB,后一个缺陷回波至此高度时衰减器读数是40dB则() A、前一个缺陷大于后一个B、后一个缺陷大于前一个C、两者一样大D、任意
直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5DB，两者的材质双声程衰减均为0.004DB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的()A.5%B.10%C.20%D.40%
直探头探测厚250mm及500mm的两个饼形锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差5DB，材质衰减均为0.004DB/mm，前者的底面回波调至示波屏满幅度的80%，则后者的底面回波应为满幅度的()A.5%B.10%C.20%D.40%
直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅（100%）高，则后者的底面回波应是满幅度的：（）A、40％B、20％C、10%D、5％
直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB，两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的（）A、5%B、10%C、20%D、40%
直探头探测厚250mm及500mm两饼形锻外，•若后者探测面毛糙，•与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm前者的底面回波调至示波屏满幅度的100％，则后者的底面回波应为满幅度的（）。A、5％B、10％C、20％D、40％
单选题直探头探测厚度250mm和500mm的两个饼形试件，若后者探测面粗糙且与前者耦合差为5dB，两者的材质双声程衰减均为0.004dB/mm，当前者的底面回波调至示波屏满幅的80%时，后者的底面回波应为示波屏满幅的（）A5%B10%C20%D40%
单选题直探头探测厚250mm及500mm两锻件，若后者与前者耦合差4dB，材质衰减均为0.004dB/mm，前者底面回波为满幅度80%时，则后者底面回波应为其（）。A5%B10%C20%D40%
单选题厚度均为400mm，但材质衰减不同的两个锻件，采用各自底面校正400/Φ2灵敏度进行分别探测，现两个锻件中均发现缺陷，且回波高度和缺陷声程均相同，则：（）A两个缺陷当量相同B材质衰减大的锻件中缺陷当量小C材质衰减小的锻件中缺陷当量小D以上都不对
单选题直探头探测厚100mm和400mm的两平底面锻件，若后者探测面粗糙，与前者耦合差为5db，材质衰减均为0.01Db/mm（双程），今将前者底面回波调至满幅（100%）高，则后者的底面回波应是满幅度的：（）A40％B20％C10%D5％
单选题斜入射横波法探测平板形试块时，探测回波中（）A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波，底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在