QSI电桥反接时()。A、只有标准电容外壳带电B、只有桥体内部及三根引线带电C、标准电容器外壳、桥体内部及三根引线均带电

QSI电桥反接时()。

  • A、只有标准电容外壳带电
  • B、只有桥体内部及三根引线带电
  • C、标准电容器外壳、桥体内部及三根引线均带电

相关考题:

在相同条件下,用QSl西林电桥测量小电容试品的tgδ和Cx时,用正接线方法和反接线方式测量的结果是完全相同的。( )

QSl型西林电桥反接线时电桥桥体处于高电位。( )

用QS-1型西林电桥反接线测量时,试验电压不能超过()KV,而正接线测量时却()限制。

采用QS1电桥进行反接线测试tanδ,其工作电压不可超过10kV。A对B错

现场用QSI型西林电桥测量设备绝缘的tgδ,当出现较大电场干扰时,则在任意调换试验用电源的相别和极性的情况下,所测得的tgδ值大。

采用QS1电桥进行反接线测试tanδ,其工作电压不可超过10kV。

在相同条件下,用QS1型西林电桥测量小电容试品中的tg∮和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。

QS1电桥反接线时()都处于高电位情况。

测量变压器介质损失角正切值,用()。A、电压降法B、屏蔽法C、直流电桥法D、QSI型交流电桥法

采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度低。

采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度()。A、低B、高C、相等

西林电桥测试tanδ时采用()时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A、正接线B、反接线C、交叉接线

适用QSI型西林电桥测量试品tg∮,接通或断开电源时,检流计灵敏度应在中间位置。

在相同条件下,用QSI型西林电桥测量小电容试品的tgδT和C时,用正接线方式和反接线方式测量的结果是完全相同的。

介质损耗测量时,测量变压器的器身使用电桥正接法,测量套管使用反接法.( )

QS1型交流电桥在使用时采用反接线方法,是使被试设备()接地。测量时电桥上于(),试验电压受电桥绝缘水平限制,高压端对地杂散电流不易消除,抗干扰性差。A、两端、高电位B、两端、低电位C、一端、低电位D、一端、高电位

QS1型交流电桥在使用时有通常有以下()接线方法A、正接线B、反接线C、侧接线D、低压接线

在QSI型西林电桥测量操作中,若分流器档位设置电流值较大于试品实际电流值,则电桥R3的调节值需趋向最高限值,电桥才能趋抽平衡。

使用高压电桥测量耦合电容器(包括断路器的断口均压电容器)的介损和电容时,宜采用(),反接线测量误差较()。A、反接;小B、正接;大C、反接;大D、正接;小

判断题采用QS1电桥进行反接线测试tanδ,其工作电压不可超过10kV。A对B错

判断题适用QSI型西林电桥测量试品tg∮,接通或断开电源时,检流计灵敏度应在中间位置。A对B错

单选题用西林电桥测量介质损耗角正切值时,采用反接法()。A可以试品一端接地B试品设在高压端C不适用于现场试验D操作方便

单选题采用QS1电桥测量tanδ,正接线比反接线准确度()。A低B高C相等

单选题西林电桥正接线与反接线相比抗干扰能力()A较强B较弱C相同

单选题西林电桥正接线与反接线相比抗干扰能力()A较强B较弱C相同D都可能

单选题西林电桥测试tanδ时采用()时适用于被试品不能与地隔离时的测量。A正接线B反接线C交叉接线

判断题介质损耗测量时,测量变压器的器身使用电桥正接法,测量套管使用反接法.( )A对B错