X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁，加入（）元素做内标来抵消熔样过程中的各种干扰，确保全铁测定准确。A、FeB、CoC、MnD、Na

X射线荧光光谱法测定铁矿石中全铁，加入（）元素做内标来抵消熔样过程中的各种干扰，确保全铁测定准确。

  • A、Fe
  • B、Co
  • C、Mn
  • D、Na

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铁矿石X射线荧光熔融法中碘化物或溴化物作用是（）。A、助熔剂B、脱模剂C、内标D、熔剂
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X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量
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用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时，激发时间要适当加长。
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X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
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波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
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X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
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X射线光谱定量分析方法有（）。A、标准加入法B、内标法C、标准曲线法D、增量法
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X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。
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玻璃熔片法X荧光仪分析下列（）样品时，熔样时要加入钴共熔体。A、机烧B、球团C、石灰块D、铁矿石
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X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
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X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
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用玻璃熔片X荧光仪法测定铁矿石中的铝、钾、钠等元素含量，应选用（）试剂作为脱模剂。A、LiBrB、NH4IC、NaID、KI
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X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
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X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
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在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
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由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
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X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
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X射线荧光熔融法测定矿石中铁，钴是作为（）加入的。
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X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
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X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用（）和（）来接受被测元素特征光谱信号的。
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在X射线荧光光谱仪的正比计数管中，甲烷可用来做（）。
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在X荧光内标元素加入法中，对于原子序数（Z）大于23号的待测元素的Kα线，原子序数为的（）元素是理想的内标元素。
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铁矿石X射线荧光熔融法中内标用的是（）。A、射线管Rh靶线B、Okα线C、Cokα线D、Cokβ
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X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
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采用玻璃熔片X射线荧光光谱法测定铁矿石中化学成分，在熔融制样过程中滴加碘化铵，其作用是氧化铁矿石中还原物质，保护坩埚。
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为什么说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性？
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问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
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