原子吸收光度法的背景干扰，主要表现为()形式。A、火焰中被测元素发射的谱线B、火焰中干扰元素发射的谱线C、光源产生的非共振线D、火焰中产生的分子吸收
由待测元素与其他组分之间发生的化学作用所引起的干扰是()。A.光谱干扰B.基体干扰C.化学干扰D.背景吸收
用火焰原子吸收法测定废水中金属元素如何检查是否存在基体干扰？
不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。A、增加灯电流B、选用其他的荧光分析线C、加入络合剂络合干扰元素D、预先化学分离干扰元素
基体改进剂是（）。A、加在样品中的一种试剂B、用化学的方法改变样品的基体组成C、改变被分析元素的挥发性和/或基体结构，降低干扰
原子吸收光度法中，背景干扰表现为（）。A、火焰中干扰元素发射的谱线B、光源产生的非共振线C、火焰中被测元素发射的谱线D、火焰中产生的分子吸收
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
不能消除原子荧光光谱中干扰光谱线的方法是：（）A、增加灯电流B、选择其他荧光分析线C、加入络合剂络合干扰元素D、预先化学分离干扰元素
普通黄铜是由（）、（）元素组成的铜合金，在普通黄铜中再加入其它元素所形成的铜合金，称为（）黄铜。
光度分析中，为消除其它元素的干扰，提高测定的选择性，除萃取分离外常用的方法是加入（）
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
原子吸收光谱法中，背景吸收产生的干扰主要表现为（）。A、火焰中产生的分子吸收及固体微粒的光散射B、共存干扰元素发射的谱线C、火焰中待测元素产生的自吸现象D、基体元素产生的吸收
原子吸收光谱法的背景干扰表现为下列哪种形式？（）A、火焰中被测元素发射的谱线；B、火焰中干扰元素发射的谱线；C、火焰产生的非共振线；D、火焰中产生的分子吸收。
由待测元素与其他组分之间发生的化学作用所引起的干扰是（）。A、光谱干扰B、基体干扰C、化学干扰D、背景吸收
由于非原子性吸收对待测元素产生的干扰是（）。A、光谱干扰B、基体干扰C、化学干扰D、背景吸收
ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除。A、物理干扰B、化学干扰C、电离干扰
用ICP－AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与干扰元素浓度的比值。
当待测元素的分析线与共存元素的吸收线相互重叠，不能分开时，可采用的办法是（）。A、扣除背景B、加入消电离剂C、采用其它分析线D、采用稀释法或标准加入法来排除干扰
标准曲线法仅适用于组成简单或无共存元素干扰的样品，分析同类大批量样品简单、快速，但基体影响较大。
用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与于扰元素浓度的比值。
我们的样品（主要元素是C/H/O/N等非金属元素）理论上是不应该含有Al元素﹐但是AAS分析确发现含有微量的Al元素﹐请问各位是什幺原因会导致这样的不合理的结果？（样品污染？还是有其它元素的干扰？）我们的产品是有机树脂类的﹐从原料到工艺应该说不存在铝元素的﹐我们也做了元素分析没发现有铝元素。AAS测定Al元素含量只有14ppm采用的是石墨炉﹐硫酸炭化﹐用去离子水配成溶液。AAS中是否存在什幺非金属类的元素会干扰测定造成误判？
判断题用ICP-AES法测定水中金属元素时，干扰系数是指干扰元素所造成分析元素浓度升高与于扰元素浓度的比值。A对B错
单选题ICP-AES法测定多元素时，在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，可抑制或消除（）。A物理干扰B化学干扰C电离干扰
问答题用火焰原子吸收法测定废水中金属元素如何检查是否存在基体干扰？
多选题基体改进剂是（）。A加在样品中的一种试剂B用化学的方法改变样品的基体组成C改变被分析元素的挥发性和/或基体结构，降低干扰
单选题不能消除原子荧光光谱中干扰荧光谱线的方法是（）。A增加灯电流B选用其他的荧光分析线C加入络合剂络合干扰元素D预先化学分离干扰元素