多选题基体改进剂是()。A加在样品中的一种试剂B用化学的方法改变样品的基体组成C改变被分析元素的挥发性和/或基体结构,降低干扰

多选题
基体改进剂是()。
A

加在样品中的一种试剂

B

用化学的方法改变样品的基体组成

C

改变被分析元素的挥发性和/或基体结构,降低干扰


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相关考题:

样品预处理的目的是A、去除样品中的杂质B、富集待测物C、排除样品中的干扰D、提高分析仪器的灵敏度E、消除样品中待测物与基体的反应

标准曲线法仅适用于组成简单或无共存元素干扰的样品,分析同类大批量样品简单,快速,但基体影响较大。此题为判断题(对,错)。

用石墨炉(氘灯扣背景)原子吸收测植物样品中的铬?基体改进剂都用的什么?是不是一定要用基体改进剂?我的植物样用不同浓度的铬溶液培养的蔬菜,样品量比较少。准备用硝酸和高氯酸进行消化测定其中铬的含量

基体改进剂是()。A、加在样品中的一种试剂B、用化学的方法改变样品的基体组成C、改变被分析元素的挥发性和/或基体结构,降低干扰

X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

石墨炉原子吸收法选择基体改进剂有何原则()A、基体改进剂必须是“超纯的”B、改进剂在允许温度下,应易于分解挥发C、改进剂不能对分析元素产生新的干扰D、改进剂的选择应着重强调某一方面的效果

用石墨炉原子吸收法测定元素时,经常使用基体改进剂,其目的在于显著地降低分析物的挥发性,阻止分析物在灰化阶段的挥发损失;使基体在灰化阶段尽可能蒸发除去,以减少原子化阶段的化学和光谱干扰

消除化学干扰的方法()。A、选择合适的原子化方法B、加入释放剂C、加入保护剂D、加入基体改进剂

用发射光谱进行元素定性分析依据是()。A、元素的特征谱线是否出现B、元素的特征谱线强度C、元素的含量D、样品的基体成分

样品预处理是为了()。A、去除样品中的杂质;B、富集待测物;C、提高分析仪器的灵敏度;D、排除样品中的干扰;E、消除样品中待测物与基体的反应。

分析元素和基体元素之外的其它元素所产生的干扰统称为()干扰。

在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

消除原子吸收分析中基体干扰的方法有()。A、用不含待测元素的空白溶液来调零B、减小狭缝宽度C、使用标准加人法D、标准溶液的基体组成应尽可能与待测样品溶液一致

标准曲线法仅适用于组成简单或无共存元素干扰的样品,分析同类大批量样品简单、快速,但基体影响较大。

石墨炉原子吸收分光光度法测定环境空气中铅时,若样品背景值很高,可以考虑加入()作为基体改进剂,适当提高灰化温度,消除基体干扰。

用ICP-AES法测定水中金属元素时,基体匹配法对于基体成分固定样品的测定是理想的消除干扰的方法,但存在高纯试剂难于解决的问题,且废水的基体成分变化莫测,标准溶液的配制十分麻烦。

多选题样品预处理是为了()。A去除样品中的杂质;B富集待测物;C提高分析仪器的灵敏度;D排除样品中的干扰;E消除样品中待测物与基体的反应。

判断题用石墨炉原子吸收法测定元素时,经常使用基体改进剂,其目的在于显著地降低分析物的挥发性,阻止分析物在灰化阶段的挥发损失;使基体在灰化阶段尽可能蒸发除去,以减少原子化阶段的化学和光谱干扰A对B错

填空题石墨炉原子吸收分光光度法测定环境空气中铅时,若样品背景值很高,可以考虑加入()作为基体改进剂,适当提高灰化温度,消除基体干扰。

判断题标准曲线法仅适用于组成简单或无共存元素干扰的样品,分析同类大批量样品简单、快速,但基体影响较大。A对B错

多选题消除化学干扰的方法()。A选择合适的原子化方法B加入释放剂C加入保护剂D加入基体改进剂

判断题基体效应是指样品基体的组成成分等对待测组分测定的影响。A对B错

多选题偶联剂是这样一种试剂()A它既能与纤维反应,又能与基体反应。B它能与纤维反应,但不能与基体反应,也不与基体相容。C它能与纤维反应,不与基体反应,但与基体相容。D它不与纤维反应,但与基体反应或相容。

判断题用ICP-AES法测定水中金属元素时,基体匹配法对于基体成分固定样品的测定是理想的消除干扰的方法,但存在高纯试剂难于解决的问题,且废水的基体成分变化莫测,标准溶液的配制十分麻烦。A对B错

多选题石墨炉原子吸收法选择基体改进剂有何原则()A基体改进剂必须是“超纯的”B改进剂在允许温度下,应易于分解挥发C改进剂不能对分析元素产生新的干扰D改进剂的选择应着重强调某一方面的效果

问答题用石墨炉(氘灯扣背景)原子吸收测植物样品中的铬?基体改进剂都用的什么?是不是一定要用基体改进剂?我的植物样用不同浓度的铬溶液培养的蔬菜,样品量比较少。准备用硝酸和高氯酸进行消化测定其中铬的含量

多选题样品预处理的目的是()A去除样品中的杂质B富集待测物C排除样品中的干扰D提高分析仪器的灵敏度E消除样品中待测物与基体的反应