X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应()。A、内标法B、数学校正法C、滤波D、稀释法

X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应()。

  • A、内标法
  • B、数学校正法
  • C、滤波
  • D、稀释法

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X线成像相关的特性中,"X线能穿透可见光不能穿透的物体,在穿透过程中被穿透物体吸收部分X线"属于A.X线B.荧光效应C.感光效应D.电离效应E.X线的衰减

简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。

X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应,只能校正增强效应。

在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关。A、均匀性B、粒度效应C、辐射D、吸收-增强效应

X射线荧光光谱分析中,适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。

以下哪种X线特性是X线成像中最基础的特性()A、穿透性B、荧光效应C、摄影效应D、电离效应E、反光作用

当对技术要求严格或者对结果有争议时,一般采取以下哪种材质分析方法进行检验()A、化学分析法B、X射线荧光分析法C、发射光谱法D、原子吸收光谱法

X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低。

基体效应包括吸收和增强两种效应。消除基体效应的方法有()法等。A、稀释B、薄膜样品C、吸收校正D、数学处理

X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差。A、粒度效应B、吸收C、增强D、矿物效应

在X荧光分析中以下哪种方法不能消除吸收-增强效应()。A、内标法B、数学校正法C、滤波D、稀释法

原子吸收的定量方法——标准加入法,消除了下列哪种干扰?()A、分子吸收B、背景吸收C、光散射D、基体效应

简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应?如何消除?

X荧光分析中,下边哪种方法不能降低背景()。A、A、激发条件(Kv,m尽可能高

在原子吸收光谱法中,下列()的方法不能消除背景干扰的影响。A、用次灵敏线作为分析线B、用氘灯进行校正C、用自吸收进行校正D、用塞曼效应进行校正

X线成像相关的特性中,“X线能穿透可见光不能穿透的物体,在穿透过程中被穿透物体吸收部分X线”属于()A、X线B、荧光效应C、感光效应D、电离效应E、X线的衰减

原子吸收分析的定量方法—标准加入法消除了下列哪种干扰?()A、基体效应B、背景吸收C、光散射D、谱线干扰

在X荧光分析中,将物料进一步磨细的目的是()。A、消除颗粒效应B、便于压片C、消除元素效应

用标准加入法进行原子吸收定量分析,主要消除下列哪种干扰().A、分子吸收B、光散射C、基体效应

下述哪种分析方法是以散射光谱为基础的()A、原子发射光谱B、拉曼光谱C、原子吸收光谱D、X荧光光谱法

用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应,内标物满足什么条件?

问答题简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。

单选题X线成像相关的特性中,"X线能穿透可见光不能穿透的物体,在穿透过程中被穿透物体吸收部分X线"属于()AX线B荧光效应C感光效应D电离效应EX线的衰减

问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应,除了内标法和标准加入法外,还有哪几种方法?

单选题在X荧光分析中,将物料进一步磨细的目的是()。A消除颗粒效应B便于压片C消除元素效应

问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应,内标物满足什么条件?

单选题以下哪种X线特性是X线成像中最基础的特性()A穿透性B荧光效应C摄影效应D电离效应E反光作用